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1.  对于粉末样品，一般待测金属含量大于1wt%，其余组成为质量较轻元素（相对吸收小），如碳材料、氧化硅、氧化铝上负载的单原子，氧化物，硫化物等样品，在透射模式下可以得到合格谱图，此类样品最好是选择透射模式测试。       

2.  需要选择荧光模式的样品有以下几种情况： 

 (1) 组成简单，但是待测金属含量低于1wt%，特别是贵金属类较重的金属元素，含量越低，所需样品量就越多，压片制样后样品就会越厚，太厚的样品用透射模式的话会导致信号较弱，谱图不合格，此时选择荧光模式比较合适。                  

(2) 类似上一种，组成简单，待测金属含量也大于1wt%，但是由于样品合成难度高产量低，样品量严重不足，比如含量1wt%的Fe-N-C单原子材料，只有10mg，那也只能用荧光模式。

(3) 组成复杂，除了待测金属外，还有其他金属元素，甚至含量比待测金属还高很多，比如NiO上负载的单原子Pt，这类样品压片制样所用样品量少了Pt信号太差，样品多了金属Ni吸收屏蔽的信号又太多，会影响Pt的信号，只能选择荧光模式。

(4)组成极其复杂，含量又很低的多buff类样品，如金属掺杂的LDH，土壤样品，含量很低的双金属单原子催化剂等。

(5) 块体或者薄膜材料，这类样品本身太厚就会导致后电离室信号太弱，只能用荧光模式，其中泡沫镍类材料可以用透射，可能是因为其多孔结构，光能穿透过去，但是前提也是泡沫镍上负载的材料含量较高（10wt%以上），如果是泡沫镍上负载的单原子材料，就类似于情况3），需要选择荧光模式。

1. foil是每次都会提供也是必须提供的数据（除了一些元素没有foil标样，会用能量相近的其他元素的foil代替）。foil的作用类似于XPS的C校正，因为不同时间测试，可能因为光和仪器状态不同，吸收能量值有偏差。每次测试都需要测标准的foil的吸收边值，来校正样品的能量。这也就表明，每次测试的数据只能通过那批次的foil的能量校正后，才算准确。

2. 对于氧化物类的标样也是一样的道理。理论上来说，不同批次的氧化物标样数据用它那批次的foil校正能量后，应该是一样的。但是由于仪器原因、人为误差和某些元素飘忽不定的导数最大值（校正用的值），较边后的标样数据只能是大差不差的用来比对。 

3.  如果只需要得出诸如待测元素价态在2~3之间之类的结论，用我们较边后的非同批次氧化物类标样数据是没有问题的。但是如果是像O缺位Fe ₂ O ₃ ，负载单原子或者纳米颗粒的MoS ₂ 之类的材料，它的待测元素Fe或者Mo的价态变化是十分微弱的，这时候可能就需要和样品同批次测上氧化物类标样，以比对微弱的价态或者配位键长变化，用非同批次氧化物类标样直接比对可误差可能较大。

4.  综上所述，探讨微弱变化的，可能需要和样品同批次测试标样来做分析会更准确；只是定性对比或者对数据分析要求不是特别严格的，不需要和样品同批次测试。