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TEM分析特训营：DM软件加标尺、上色、衍射标定、晶面量取、衬度调整、EELS分析、高分辨图像信息挖掘！

时间：2022-10-17 来源： 浏览：

TEM分析特训营：DM软件加标尺、上色、衍射标定、晶面量取、衬度调整、EELS分析、高分辨图像信息挖掘！

华算科技 催化开天地
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DigitalMicrograph (DM)是目前最强大的的TEM数据采集和分析软件，具有采集图像，图像处理和分析，数据管理和报告打印等多种功能。
我们为大家准备了最新版DM软件安装包、License、常用插件，请入群下载！
材料类顶刊必然有漂亮的TEM表征和详尽的数据分析， 不会分析TEM图像，会降低文章说服力，严重拉低论文档次。
为了帮大家全面掌握TEM数据分析技能，早发顶刊！华算科技开办了TEM特训营，我们将通过 10小时直播 课程，一步步细节演示DM软件 实操 ，带你稳稳上车。
特训营课程 完全免费 ，扫 描下方二维 码回复“ TEM ”，入群听课！
课程群内提供直播链接、回放视频、练习文件、课件PPT。
以下为课程大纲，详细课表将在后续推文发布。
一、Gatan Microscopy Suite 3.0软件的基本操作与常用功能
1. 软件版本选择与下载
2. 常用插件选择与介绍
3. 数据类型介绍，主要分为图像数据与谱学数据
4. 操作界面介绍，各类功能模块介绍
5. 实例展示-数据导入与存储
支持的数据类型
不同类型的数据导入方式
6. 实例展示-图像标尺确定
7. 实例展示-图像上色与衬度调整
8. 实例展示-插件安装与常用插件功能展示
二、衍射图案分析
衍射图案标定/晶面间距量取
如何从电子衍射中获得更多有用的信息
三、高分辨图像分析
常用的高分辨图像类型（相位衬度、HAADF，ABF）
Intensity profile提取
晶格间距量取
傅里叶变换
一些好用的插件推荐以及展示 (滤波，图像旋转、衬度翻转等)
不同类型数据的导出（image、intensity profile、FFT）
四、EELS电子能量损失谱分析-1
电子能量损失谱基本原理
常用的电子能量损失谱采集模式
谱线处理的基本流程（零峰校准、扣背底、解卷）
五、EELS电子能量损失谱分析-2
如何从谱线中提取研究中常用的一些信息
-样品厚度计算
-元素标定与分布mapping
-化学位移识别/L3/L2ratio比较
数据导出

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