GaAs MESFET热特性电学法测量与分析 GaAs MESFET热特性电学法测量与分析

GaAs MESFET热特性电学法测量与分析

  • 期刊名字:半导体技术
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  • 论文作者:冯士维,谢雪松,吕长志,何大伟,刘成名
  • 作者单位:北京工业大学电子工程系,电子工业部第十三研究所
  • 更新时间:2023-01-20
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论文简介

采用快速脉冲技术,研制了GaAs MESFET热特性测试仪,并测量、分析了GaAs MESFET冷响应曲线、温升、稳态热阻、瞬态热阻及热响应曲线.采用该方法,可在器件正常工作条件下,快速、非破坏性地测量分析器件的芯片、粘接及管壳各部分的热阻.

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