JB/T 9495.7-1999 光学晶体光学均匀性 测量方法

ICS17.180;31.00N05JB中华人民共和国机械行业标准JBT9495.7-1999光学晶体光学均匀性测量方法Measuring method for optical homogeneityof optical crystal1999-08-06发布000-01-01实施JBT949571999前言本标准是对ZBN05001.7-86《光学晶体光学均匀性测量方法》的修订。本标准根据CB/T11993和GBT1.22-1993的要求对原标准作了编辑、文字上的修改,主要技术内容没有变本标准自实施之日起,代替aBN05001.786。本标准由仪表功能材料标准化技术委员会提出并归口。本标准由北京玻璃研究所负责起草。本标准主要起草人:杨学志。本标准1986年6月首次发布中华人民共和国机械行业标准光学晶体光学均匀性测量方法BB/T9s5.7-1999代aN0786arg method for opdal bamogcndity1范国本标准适用于直径不大于200m的光学晶体光学均匀性的测量。测量折射率微差的精度为:△2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时所示版本均为有效。所有标准都会被修订使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。JBT9495.1-199光学晶体3原瑆光学均匀性系相同一块光学晶体内部折射率微差的大小。当一块内部折射率分布不均的光学昌放在于涉仪(如台曼干涉仪)的测量光路宁时,干涉仪原笔直规则的干涉条纹会产生弯曲或其它变形用这种光程改变而引起的干涉条纹弯曲与光学晶体内部折射率分布的关系即可判断其光学均匀性的好坏。公式(1)给出了这种对应关系△m-(7-1)h式中:—光学晶体的折射率;△m—样品干涉条纹的变化量样品表面面形误差(这里指置玻璃表面平面度局部光面)h一样品厚度,cm4仪器标准采用台曼-格林干涉仪(或光多光束球面干涉仪)。其光路示意图如图1。5排品5.1测量光学均匀性的光学晶体样品应力双折射应小于二类。散射颗粒度为二类以上5.2粹品加工成外形规整两通光面平行度小于1,面形平整用303°砂细磨。以刀刃尺检验,肉眼观察无缝为5.3测量前样品需在恒温室内放置12h。国家机械工业局198-09-06数准200-01-01实施JB/T9495.7-19391-单色光源;2-准直物髋;3-分束镜;4-样品;5-贴置玻璃一对;6-标准平面反射优;7-补尝板;8-参考平面反射;9-望远镜;10-观测系统图1台曼一格林干涉仪光路示意图6测量6.1条件6.1.1测试时恒温室温度波动不得超过±0.5℃/h,室内相对湿度不大于75%6.1.2测量过程中要隔震防震周期小于3H/s,隔震震幅小于0.2m6.13贴量用折射液与样品折射率差小于1x10-62步骤62.1接通电源,预热15mn,调整干涉仪使仪器处于正常工作状态6.22将樺品放于载物台上,點入贴置玻璃中,调整载物台及样品,使其垂直于光路井使光轴通过其中6.2.3调整标准镜和参考镜,使视场中出现五条左右清晰可见的干涉条纹。624记录干涉条纹弯曲方向,量取间距及弯曲量。6.3结果6.3.1干涉条纹弯曲量与条纹间距的比值△m的计算a)如图2所示,干涉条纹规整,等距,但有局部弯曲,则Agr式中:△a-—各条纹弯曲量中的最大值,mm;a—条纹间距,mmb)图3所示干涉条纹既不规整,也不等距且有局部弯曲,则:(a式中:a—最大间距最小间距取△m和△m2中最大值计算样品的光学均匀性△n值JT94957-1996.32将△m值代人公式(1)算出△n,按光学晶体标准JBT995.1-199中5.2,6的规定分类