SOC测试结构优化研究 SOC测试结构优化研究

SOC测试结构优化研究

  • 期刊名字:半导体技术
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  • 论文作者:许川佩,王征,黄青萍
  • 作者单位:桂林电子科技大学,桂林师范高等专科学校
  • 更新时间:2023-01-27
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论文简介

结合SOC测试结构的特点,采用量子进化算法对SOC测试结构进行优化.通过对量子进化算法中群体尺寸、旋转角度的合适设定,达到减少SOC测试所用时间的目的.针对国际SOC标准电路验证表明,与同类算法相比,该算法能够获得较短的测试时间.

论文截图
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