红外热成像无损检测中缺陷深度检测新方法 红外热成像无损检测中缺陷深度检测新方法

红外热成像无损检测中缺陷深度检测新方法

  • 期刊名字:激光与红外
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  • 论文作者:薛书文,祖小涛,洪伟铭
  • 作者单位:电子科技大学应用物理系,湛江师范学院物理系
  • 更新时间:2023-01-22
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论文简介

文章在考虑缺陷大小对深度计算影响的基础上,通过对峰值时间与材料热特性参数、缺陷深度以及缺陷大小(直径)的拟合,给出一个新的计算缺陷深度的公式,并通过实验验证了其可行性.

论文截图
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