V777测试系统DA/AD测试技术的研究 V777测试系统DA/AD测试技术的研究

V777测试系统DA/AD测试技术的研究

  • 期刊名字:电子与封装
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  • 论文作者:陆强,孙晓丽
  • 作者单位:无锡华润矽科微电子有限公司
  • 更新时间:2023-01-26
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论文简介

文章以V777测试系统为平台,用虚拟测试方法和DSP的思想来模拟数模混合测试仪的工作机制,包括激励的产生、响应的采集、数据处理和为DUT提供的测试波形的组合响应处理.利用V777测试系统PMU端口可并行测试的功能获取待测电路AD模块的8位输出,在误差允许范围内匹配其理论对应值.在低频下,利用PMU对DA端口模拟信号的输出进行采样,对采样得到的数据做数字信号算法处理,实现波形的判断.用上述方法以低成本来实现具有一定难度的电路的测试.

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