JB/T 9320-1999 平面光栅摄谱仪
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免费标准下载网.feb.ec)ICS 17. 180.30N33JB中华.人民共和国机械行业标准JB/T 9320- -1999平面光栅摄谱仪Plane- gratings spectrographs1999-08-06发布2000-01- 01实施国家机械工业局发布免费标准下载网ww.r.cbz.nenJB/T 9320- -1999前言本标准是对ZB N33 001- -8平面光栅摄谱仪》的修订。修订时,对原标准作了编辑性修改,主要技术内容没有变化。本标准自实施之日起,代替zB N33 001- -88。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:上海光学仪器研究所。免费标准”下载网.feb.ec)中华人民共和国机械行业标准JB/T 9320-19S9平面光栅摄谱仪代替Z N33 001-88Planegratings spectrographs1范围本标准规定了平面光栅摄谱仪的基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本标准适用于JB/T 8231规定的平面光栅摄谱仪。2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T2828-1987逐批检查计数抽样程序及抽样表(适用于连续批的检查)GB/T 2929-1987 周期检查计数抽样程序及抽样表(适用于生产过程稳定性的检查)GB/T 15464- -1995 仪器 仪表包装通用技术条件JB/T 8231-1999平面光栅摄谱仪基本参数系列JB/T9329--1999仪器仪表运输、运输贮存基本环境条件及试验方法jB/T 9331- -1999 光谱仪器用狭缝3基本参数仪器的基本参数应符合JB/T 8231 的规定。4技术要求4.1 仪器的实际分辨率不应低于表1的要求。.表1光级鉴别线对焦距闪耀波长|刻槽密度宽波长间隙0实际分辨率mm变元素波长λnonm槽/mma1m(Rx=合)234.83030. 020411500234. 80991200410. 64395003005Fe0.017423599410.6265249. 3261249. 31800.008030781国家机械工业局1999- 08- 06批准2000-01-01实施免费标准”下载网ww.feb.ncnJB/T 9320- 1999表1(完)光杨级|独鉴别线对焦距绽波长间隙A2实际分辨率|宽um闪耀波长|刻橹密度波长λ槽/mm次μm元素(R&= A)383. 086018000.009938695383. 0761300F0. 0099383 .07610C2400285 . 3688二0. 008633183285. 3774383. 08635001200383. 0760285. 368650383.0761423. 98496000.011636550423. 97331050363. 62340.004875754|二363. 6186249 .32610.008130781249. 3180200309. 9971000.007441891309. 9897600.0094392. 9212和0.008844650392 .9124367.007124e0. 004385350367. 0028318. 19080. 005360036318. 1855448. 22580.008652119448.21724.2仪器全谱面谱线应清晰、对称。谱线应不出现明显尖头和其他影响测量的单边扩散等疵病,能分辩的线对按表2规定。表2鉴别线对波长光维|元全谱面谱线的信距清淅范胃mm | 闪耀波长|刻槽密 度度| 隶左右im !m檀/m1800或234.8303350. 5061|F234.8099285. 3688350.586-4100274. 9484309. 9970335.1745274. 9324309.9897335.15212免费标准下载:网.rebz.neJB/T 9320- 1999表2 (完)鉴别线对波长光毋i维元全谱面谱线的焦距清晰范围nm{闪耀波长|刻槽密度左am槽/mm234. 8303285. 3774350.5061750300180F50234. 8099285. 36883S0. 5861350.. 5061001200285 . 36883S0. 485910502400282. 5689309. 9970352.6168282. 5560_309. 9897352. 6042350.6168600350. 4859C01800352. 6168和5F309. 989721003S2. 6464367.0071392. 9212352. 6383367. 0028392. 91244.3仪器常用元素的分析线的出现浓度按表3和表4规定。表3光栅闪耀波长300nm元素则定线出现浓度Cd(H)226.50170.003234.984CP261.41780.0003283. 99890. 0003S287.7915B306.77160.0001326. 10570. 0003.Z334. 50200.001光概闪耀波长nOnm到定线Sr287. 7915326.10574.4在正常 照明时,前线强度在中央9mra高度内应均匀一致,在谱线黑度为0.8+0.2的情况下,其黑度差(AS)应小于0.1。4.5谱线的轮察应对称分布,它的单边扩散月谱线轮廓的不对称度表示(见图2),其值应小于谱线轮廓半宽皮的1/5。4.6仪器的狭缝要求应 按JB/T 9331规定。免费标准下载网.feb.ncnJB/T 9320- -19994.7阶 梯减光板应标注波长为253. 7nm, 313.2nm, 435. 8nm, 579rm的各阶实际透过率值,其值与名义值之差应小于土20%。4.8 仪器应有良好的密封性,不应有漏光现象。.9 仪器运动部件应平稳舒适,不应有卡死、突跳及显著的空回,仪器更换部件应保证互换性和可靠性4.10仪器的自动控制部分应灵敏,稳定可靠,重复性偏差曝光时间30s以下不超过1s,曝光时间30s以上,其相对误差不超过5%。4.11外观 .4.11.1仪 器外表应整洁美观,不应有下列疵病:a) 电镀表面不应有脱皮现象;b)喷漆表面不应有油漆脱落和显著的色彩不匀现象;c)外部零件接合 处应齐整,棱边应倒棱,无粗糙不平现象。4.11.2仪器所有刻线刻字应清晰、均匀,不应有妨碍读数和测量的锈蚀、耀光等现象。4.12仪器在运输包装条件下应符合JB/T9329的要求,其中高温试验选用+55C,低温试验选用-40C,自由跌落高度250nm。4.13仪 器的包装应符合GB/T 15464有关规定。5试验方法5.1 试验条件仪器在进行试验时试验室的温度必须保证在20C土5C范围内。被测仪器放在室内平衡温度的时间应不少于24h。5.2 分辨率要求(4.1)5.2.1试验工具光诸投影仪,记录式测微光度计,交直流电弧发生器,感光板[灵敏度(SDo+0.2) x12+8,反衬度3.0+0.2,灰雾< 0.06]。5.2.2试验程序电流为5A的交流电弧,仪器相对孔径应大于1:30,狭缝高为10mm,用感光板摄铁谱线o将谱片置于投影仪上放大20倍检验,也可借助放大镜将投影的谱线再次放大检验,或用记录式测微光度计描绘谱线轮廓检验。5.3全谱 面谱线质量(4.2)5.3.1试验工具光谱投影仪,记录式测微光度计,交直流电弧发生器。5.3.2试验程序同5.2.2。5.4常 用元素分析线的出现浓度(4.3)5.4.1 试验工具光谱投影仪,记录式测微光度计,直流电弧发生器,感光板[灵敏度(SDo+0.2)x 20士5,反衬度2.0土0.2,灰雾<0.06]5.4.2试验 程序直流电源,电流为5A,不预燃,阳极激发,仪器的相对孔径应大于1 : 30,狭缝宽度84m,曝光时间30s,电极间距为2.5mm,石墨电极形状尺寸如图1所示。试样装满电极孔,用纯镍粉末杂质标准试样(1",2* ,3* ,4* ,5*)、感光板及其配方的显影液。显影液温度为20C士19C,显影3min定影晾干。将谱片置于投影仪上观测常用元素出现的浓度,必要时可用测微光度计(记录式)测量。4免费标准下载网(.b.nenJB/T 9320-1999上电极下电极?十a图1电极形状5.5谱线强度均匀一致性(4.4)5.5.1 试验工具光谱投影仪,测微光度计。5.5.2试验程序用光谱投影仪观察全谱面,在鉴别线对附近选取谱线,用测量狭缝宽度为504m,高度为20mnm的测微光度计,对谱线上、中、下分三段测量黑度,计算黑度差。5.6 谱线轮廓对称性(4.5)5.6.1 试验工具光谱投影仪,自动扫描测微光度计,交直流电弧发生器,感光板[灵敏度(SDo+0.2) x 12+8,反衬度3+0.2,灰雾< 0.06]。5.6.2 试验程序电流为SA的交流电弧,仪器相对孔径应大于1 : 30,狭缝为正常宽度,谱线高度为10mm,曝光时间10s,用感光板及其配方的显影液。显影液温度为20C+ 1C,显影3min后将所得的铁谱板置于光谱投影仪上,在鉴别线对附近选取单边扩散最严重的谱线,于记录式测微光度计上扫描谱线轮廓,测量其不对称度。见图2。计算方法:OL=A0- 0B≤一AB0半宽度图25免费标准”下载网.feb.ncn.JB/T 9320- 19995.7狭缝要求(4.6)5.7.1试验工具万能工具显微镜。5.7.2 试验程序按JB/T9331要求进行试验。5.8阶 梯减光板透过率要求(4.7)5.8.1 试验工具万能分光光度计,低压汞灯。5.8.2试验程序选取汞线253. 7nm,313.2nm, 435. 8nm, 579m等谱线于万能分光光度计上测定各阶透过率。5.9 漏光(4.8)仪器置于正常使用条件下,狭缝关闭,将感光板置于暗盒中,并装在仪器上暴露4h,与无漏光的感光板在相同条件下冲洗、比较,观察漏光情况。5.10仪器运动部分的相互作用(4.9)按实际操作进行检验。5.11自动控制部分的要求(4.10)5.11.1试验工具秒表。5.11.2试验 程序操作、观察及秒表对照检验。5.12 外观质量(4.11)目测检验。5.13运 输环境试验(4.12)按JB/T9329进行试验。6. 检验规则6.1 检验分类产品的检验分为出厂检验和型式检验。6.2 出厂检验6.2.1出厂 检验抽样检查应按GB/T 2828的一次抽样检查。6.2.2 出厂检验的项目为4.1~4.11,规定检查水平为I ,合格质量水平为1.0。6.3型式检验.6.3.1型式检验一 般定 为每年进行一一次。产品在下列情况之一时亦应进行型式检验:a)新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定;b)正式生产后,如结构、材料、工艺有较大改变,可能影响产品性能时;c) 正常生产时,定期或积累一定产量后,应周期性进行一次检验;d) 产品长期停产后恢复生产时;e)出厂 检验结果与上次型式检验有较大差异时;f)国家质量监督机构提出进行型式检验的要求时。6.3.2型式检验应包括本标准中所规定的全部试验项目,型式检验的样品应从出厂检验合格的产品中随机抽取。6.3.3型式检验的抽样采用 GB/ T 2829中一次抽样检查,规定判别水平为I,不合格质量水平为30(A=0,R= 1)。免费标准下载网.feb.ncn.JB/T 9320- -19997标志、 包装运输和贮存7.1 在产品上应标志:a) 制造厂商标(或厂名);b) 型号;c)制造编号。7.2 包装7.2.1 仪器的包装应符合CB/T 15464的要求。7.2.2在用户 遵守保管和使用规则的条件下,从发给用户之日起一年内,仪器因制造质量不良而发生损坏或不能正常工作时,制造厂应无偿地为用户修理或更换。但仪器在运输途中或仓库中不应超过三个月(即出厂之日到开始使用之日止),否则保证期将相应缩短。
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