用于测试电容的电路
- 期刊名字:EDN CHINA 电子设计技术
- 文件大小:
- 论文作者:Raju R Baddi
- 作者单位:印度塔塔基础研究所
- 更新时间:2023-01-26
- 下载次数:次
论文简介
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容,决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试.从1nF的陶瓷电容,到1000μF的电解电容。电路中,CREF值接近于待测电容值CX.
论文截图
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