基于Nios Ⅱ的DDS技术在电磁无损检测中的应用

本文介绍了一种基于Nios Ⅱ的DDS技术在电磁无损检测分选仪器上的应用.以ALTERA公司的FPGA为硬件平台,根据DDS的基本原理,利用FPGA中可同时运行DDS软核和Nios Ⅱ处理器软核的优势,提出了一种多通道、高精度、便于采集的DDS设计方案.利用该方法设计的电磁无损检测仪具有精度高、体积小、成本低等优点,可广泛用于各种需要信号发生器的嵌入式产品中.