La掺杂n型Mg2Si基半导体的热电性能研究 La掺杂n型Mg2Si基半导体的热电性能研究

La掺杂n型Mg2Si基半导体的热电性能研究

  • 期刊名字:功能材料
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  • 论文作者:张倩,朱铁军,殷浩,赵新兵
  • 作者单位:浙江大学
  • 更新时间:2023-03-25
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论文简介

采用感应熔炼然后热压的方法制备了La掺杂Mg2Si基热电材料Mg2-xLaxSi(x=0、0.002、0.005、0.010、0.015).La在Mg2Si中占Mg位,当x≥0.005时,出现第二相LaMg.性能测试表明,Mg2-xLaxSi的导电类型为n型,Seebeck系数的绝对值随La含量的增多而减小,电导率和热导率均随La含量的增多而增大,在测试温度范围内,Mg1.995La0.005Si具有最高的ZT值,在774K温度下达到0.42.

论文截图
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