质子SEL影响因素分析
- 期刊名字:电子质量
- 文件大小:
- 论文作者:汪俊,师谦,邓文基
- 作者单位:华南理工大学微电子所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室
- 更新时间:2022-12-21
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论文简介
主要对质子单粒子闩锁(SEL)的影响因素进行了分析.首先介绍了质子SEL原理.然后对电路质子SEL有重要影响的四个影响因素一封装、新材料的应用、质子能量和质子入射方向进行了详细分析.分析结果表明.要研究最坏情况下地球辐射带中质子SEL,需要在较高环境温度情况下(一般取125℃).使用能量大于400MeV的质子在斜入射和垂直入射时对SEL进行同时研究.
论文截图
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