用于IDDT测试的BIST测试向量生成器

论文简介

检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对.内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大地降低测试开销.设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1～2的测试向量对.实验证明,它能以较少的测试向量对检测出比较多的故障.

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