热场对雾化裂解CVD沉积的薄膜厚度均匀性的影响
- 期刊名字:材料科学与工程学报
- 文件大小:
- 论文作者:季振国,杨成兴,刘坤,叶志镇
- 作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室
- 更新时间:2023-03-23
- 下载次数:次
论文简介
本文利用计算机程序简单模拟了圆盘状加热器和圆筒状加热器的热场分布,研究了热场对雾化裂解CVD法生长的半导体薄膜厚度均匀性的影响,并采用雾化裂解CVD技术制备了高度c轴取向的ZnO薄膜.实验结果表明利用圆筒形加热器及对衬底位置的控制可以在较小的加热器内获得相对尺寸大、厚度均匀性较好ZnO薄膜.
论文截图
版权:如无特殊注明,文章转载自网络,侵权请联系cnmhg168#163.com删除!文件均为网友上传,仅供研究和学习使用,务必24小时内删除。
热门推荐
-
C4烯烃制丙烯催化剂 2023-03-23
-
煤基聚乙醇酸技术进展 2023-03-23
-
生物质能的应用工程 2023-03-23
-
我国甲醇工业现状 2023-03-23
-
JB/T 11699-2013 高处作业吊篮安装、拆卸、使用技术规程 2023-03-23
-
石油化工设备腐蚀与防护参考书十本免费下载,绝版珍藏 2023-03-23
-
四喷嘴水煤浆气化炉工业应用情况简介 2023-03-23
-
Lurgi和ICI低压甲醇合成工艺比较 2023-03-23
-
甲醇制芳烃研究进展 2023-03-23
-
精甲醇及MTO级甲醇精馏工艺技术进展 2023-03-23
