JB/T 9020-1999 大型锻造曲轴的超声波检验

JB/T90201999前本标准等效采用 ASTM A503-75(1980年重新确认)《大型曲轴锻件的超声波检验方法》本标准是对ZBJ3200488《大型曲轴锻件的超声波检验》进行的修订,在主要技术内容上与采用的标准存在以下几点差异:对探伤时期和表面状态作了具体的要求—一对探伤人员资格作了规定;对 ASTM A503-75(1980年重新确认)中的补充要求部分未予采用本标准与zBJ32004-88相比在以下重要技术内容上有所改变;—本标准对被修订的标准的第5章重新进行了描述,对第10章的检验报告作了较全面的规定;探伤频率修改后为1~5MHz。本标准自实施之日起代替ZBJ32004-88。木标准由德阳大型铸锻件研究所提出并归口。本标准负责起草单位:第二重型机械集团公司。本标准主要起草人:王孜、钟慧仙。336中华人民共和国机械行业标准JB/F90201999大型锻造曲轴的超声波检验代替ZBJ32004-88Ultrasonic examination of large forged crankshafts范围本标准规定了直径等于或大于200mm的主支承轴颈或曲柄轴颈的锻造轴的超声波检验技术规范本标准包括检查设备和检验方法,并规定了检查区域及验收规则。本标准不适用于柴油机车锻造曲轴的超声波检验,但当制造厂与用户双方同意时,也可采用本标准2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T9445-198无损检测人员技术资格鉴定通则JB/T10061199A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件3使用本标准的依据使用本标准必须在订货合同及图样上注明:轴按本标准验收4探伤时期及衰面要求4.1第一次探伤在粗加工后(即第一热处理后)、未钻孔及未加工沟槽前进行,第二次探伤在第二热处理后进行。4.2探伤面的粗糙度均应为Ra6,3Pm5设备及人员要求5.1探伤设备性能应符合JB/T10061规定。探伤频率为1~5MHz。5.2探伤人员符合GB/T9445规定,并且最好由取得』级以上资格证的人员担任6仪器灵敏度的调节应在待检工件厚度上将底波反射调至100%满屏高作为基准波。这种调节应在无下扰信号的区域内进行。])垂直线性好的仪器可用00%屏高作为基准波高,饱和型仪器屏高8%~100%段的垂点线性不好,可用80%满屏高作为基准。国家机械工业局1999-06-28批准2000-01-01实施JB/T9020—19997检验区域7.1主关键区7.1.1轴销及轴承部分所有主支承轴轴颈和曲柄轴轴颈的表面到距表面1/8直径深的区域(见图1)主关键区次关键区d/4d图1轴销及轴承部分的检查区域7.1.2曲臂部分主支承轴的平行于三点钟方位的中心平面与相邻曲柄轴的平行于三点钟方位的中心平面之间的曲臂区域,以及由共同中心线起向外至超过外径达到1/8外径处之间的区域(见图2)。d图2曲轴垂直臂的检查区域7.2次关键区主支承轴轴颈及曲柄轴轴颈部的18直径处向内至1/4自径处之间的区域(见图!),7.3非关键区木包含在主关键风和次关键区的其他部位。8JB/T9020-19998检验方法81检查曲轴整个表面,并且从主支承轴各端面和曲轴轴颈的各端面,对所有能够进行检食的这域进行纵向扫耷8.2沿圆周方向打查各曲柄轴轴领及主支承轴轴颈。8.3探头每次扫查至少应有15%的重叠区8.4打查速度不得超过150mm/s。8·5可在静止状态下或将曲轴置于床子或滚胎上转动时进行检查。若用户未作规定,则制造∫可任选种方法进行检验。8.6在检查过程中,要注意监视底波的衰减。如果底波发生明显下降,可能表明有缺陷存在,也可能表明探头与曲轴锻件表面接触不良,或声束通过锻件时透过率有局部改变9验收标准91主关键区、次关鍵区和非关键区内,不允许有白点、裂口或其他类似裂纹的缺陷。9.2下列缺陷允许存在的限度:-在主关键区内,不允许有等于或大于20%基准波高的缺陷信号;在次关键区内,不允许有等于或大于50%基准波高的缺陷信号;——在其他检查区内,不允许有等于或大于100%基准波高的缺陷信号。不允许密集缺陷的存在。注:密集缺陷是指在50mm(包括50mm)立方体内存在着5个或5个以上等于或大于10%基础波高的缺陷信号9.3当非几何形状引起的底波衰减超过50%时,应对曲轴锻件进行其他检验,如磁粉探伤、着色渗透探伤、射线探伤或金相检验,以确定原因及决定该曲轴可否使用9.4凡超过9.2规定的缺陷,曲轴的使用与否应由设计部门、工艺部门和有关技术负责人决定10检验报告10.1报告中应画出曲轴锻件筒图,以便标明已发现的任何可记录信号的位置、范围和走向。10.2报告中应记录下列项目:a)曲轴名称(规格、类型)、材质、L件号、图号、炉号、数量;b)探伤方法、探伤仪器、探伤频率、探头、探伤灵敏度、耦合剂类型、曲轴被检面的表而状态c)探伤日期探伤结果、探伤结论、检査者、审核者;d)等于或大于10%基准波高的缺陷信号;e)任何大于或等于20%的底波衰减;f)其他任何异常情况。