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Ⅲ/Ⅴ族化合物半导体器件的空间应用可靠性

期刊名字：电子产品可靠性与环境试验
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论文作者：张新焕，刘军霞
作者单位：中国电子科技集团公司第五十五研究所
更新时间：2023-03-25
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论文简介

论述了Ⅲ/Ⅴ半导体器件在空间系统应用中的可靠性和质量鉴定方法.讨论了空间应用中该类器件常见的失效机制、辐射效应以及其它与高可靠性空间应用中相关的可靠性鉴定技术方法.

论文截图

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失效机制质量鉴定辐射效应