基于试验设计技术的IC优化设计

现代集成电路(IC)的优化设计主要依靠EDA工具完成.但是针对多指标、多参数的IC设计,单纯依靠EDA工具存在效率低以及指标和参数个数限制等问题.从试验设计技术出发,以EDA仿真作为实验,建立指标与参数的统计模型,进而优化设计电路,解决了上述问题.将该方法应用于4参数、3指标的低功耗集成运放的设计,仅通过16轮仿真试验,得到了电路指标最优情况下的参数设置.该方法对多指标、复杂参数的集成电路的优化设计更具优越性.