“正方形”MLCC产品的DPA与无损检测 “正方形”MLCC产品的DPA与无损检测

“正方形”MLCC产品的DPA与无损检测

  • 期刊名字:电子产品可靠性与环境试验
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  • 论文作者:董松,杜红炎,吕素果,张杰
  • 作者单位:北京元六鸿远电子技术有限公司
  • 更新时间:2023-01-23
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论文简介

对多层瓷介电容器(MLCC)产品进行超声波无损检测时,要求使MLCC的内电极平行于水平面放置.而对于那些无法知道内电极排列方向的“正方形”产品,就很容易漏检.而且,这类产品在做DPA检测时,无法正确地码放也成了一个问题—既浪费了样品又浪费了时间.因此,对于这类的MLCC产品,能够正确地辨认内电极排列的方向就显得至关重要.通过对MLCC进行超声波扫描与DPA的对比试验,找到了正确辨认内电极排列的方法,由此可以大大提高工作效率.

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