高光谱成像技术的苹果品质无损检测 高光谱成像技术的苹果品质无损检测

高光谱成像技术的苹果品质无损检测

  • 期刊名字:红外与激光工程
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  • 论文作者:孙梅,陈兴海,张恒,陈海霞
  • 作者单位:北京工商大学 计算机与信息工程学院,北京卓立汉光仪器有限公司
  • 更新时间:2023-01-22
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论文简介

高光谱成像技术把二维成像和光谱技术融为一体,图像技术可全面反映水果的外部品质、表面缺陷及污染等,光谱技术则可用于水果内部品质的检测,能对水果的综合品质进行全面、快速的检测。以苹果为研究对象,得用高光谱成像技术和主成分分析方法分析了苹果的风伤和压伤,对比分析不同光谱区域主成分分析对识别结果的影响,优选出识别光谱区域(550~950 nm)。通过主成分分析根据权重系数,选取了714 nm作为苹果风伤研究的最佳特征波长。

论文截图
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