JB/T 6066-2004 无损检测 磁粉检测用环形试块 JB/T 6066-2004 无损检测 磁粉检测用环形试块

JB/T 6066-2004 无损检测 磁粉检测用环形试块

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ICS19.100J04中华人民共和国机械行业标准JBT60662004代替JB/T6066-1992无损检测磁粉检测用环形试块lon-destructive testing -Rings for magnetic particle testing200406-17发布2004-11-01买施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布JB/T6066-2004目次前言引言1范围2规范性引用文件3术语和定义4分类5技术要求5.1B型试块5.2E型试块6检验方法61化学成分和晶粒度62硬度和表面粗糙度…1363通孔夹角(两个面64尺寸7检验规则…71组批规则.…72检验分类…1173检验项目8.1总则82标记格式9标志和标签10包装,运输和贮存参考文献图1B型试块图2E型试块表1B型试块的检验项目表2E型试块的检验项目JBrT6066-2004前言请注意本标准的某些内容有可能涉及专利。本标准的发布机构不应承担识别这些专利的责任本标准代替JB60661992《磁粉探伤用标准试块》本标准与JB/T601992相比,主要变化如下增加了术语和定义(见第3章);一增加了分类(见第4章);一修改了技术要求(1992年版的第3章:本版的第5章);修改了检验方法(1992年版的第4章;本版的第6章)修改了检验规则(1992年版的第4章:本版的第7章)增加了标记《见第8章)一修改了标志和标签(1992年版的51:本版的第9章)一修改了包装、运输和贮存(1992年版的52:本版的第10章)倒除了“使用注意事项”(1992年版的第6章)增加了“参考文献"本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国无损检测标准化技术委员会( SACTC56)归口本标准起草单位:上海材料研究所、航空工业第一集团公司西安飞机工业集团有限责任公司本标准主要起草人:金宇飞、宓中玉、宋志哲、穆武强本标准所代替标准的历次版本发布情况为:JB/6066-1992BrT6066-2004引言JB/T6066自1992年发布以来,为我国磁粉检测用环形试块提供了技术要求和检验方法。为了适应我国加人WTo的需要,促进贸易与交流,有必要修订JB/T6066的内容。修订后的JBT6066更加突出了以用户为关注焦点的理念环形试块的技术要求仅以满足磁粉检测目的为原则,这有利于产品的创新和满足不同用户的需要,与此同时则要求制造商向用户提供产品的使用说明书。本标准的环形试块用于验证磁粉检测综合性能(系统灵敏度),B型试块,用于验证磁化电流为直流电或三相全波整流电的磁粉检测综合性能:E型试块,用于验证磁化电流为交流电或单相半波整流电的磁粉检测综合性能,只有符合要求的磁粉检测综合性能,相应的磁粉检测结果才是有效和可靠的JBn6066-2004无损检测磁粉检测用环形试块1范围本标准规定了磁粉检測用环形试块(或试块)的分类、技术要求和检验方法本标准适用于环形试块的型式检验和出厂检验,本标准也可作为用户订货的验收依据2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注明日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注明日期的引用文件,其最新版本适用于本标准GB/6991999优质碳素结构钢GBT12992000合金工具钢( neq ASTM A68l:1994)GB126045无损检测术语磁粉检测GBT126045中确立的术语和定义适用于本标准分类本标准所适用的环形试块应按如下进行分类a)B型试块(或直流环形试块)b)E型试块(或交流环形试块5技术要求5.1B型试块5.1.1形状和尺寸B型试块为环形,其形状和尺寸见图15.12材料B型试块的材料应采用经退火处理的9cWMn钢锻件,化学成分应符合GBT1299-2000的规定,晶粒度不应低于4级,硬度应达到90HRB~95HRB5.13表面租糙度B型试块表面(除内圆表面外)的表面粗糙度不应大于R=352E型试块521形状和尺寸E型试块为环形,其形状和尺寸见图2E型试块还包括绝缘衬套和导电芯棒,试块与绝缘衬套、绝缘衬套与导电芯棒之间应紧密配合且无522材料E型试块的材料应采用经退火处理的10钢锻件,化学成分应符合GB699-1999的规定,晶粒度不应低于4级绝缘衬套的材料应采用耐热、耐油、抗变形的非金属材料,如:酚醛胶木JBT6066-20043.561067678901212451422160017781956341-12—通孔,孔径为(178±008)ml的允许公差为±008mm图1B型试块多3s±0,0一通孔,孔径为(10)mm;4—E型试块;5—绝缘村套:6—导电芯棒l的允许公差为±005mm通孔夹角的允许公差为±05,各圆心允许公差为士05mm,图2E型试块导电芯棒的材料应采用导电良好的金属材料,如:纯铜523表面粗糙度E型试块表面(除内圆表面外)的表面粗糙度不应大于R=32um6检验方法61化学成分和品粒度应在每批材料中至少抽取一份样品,并采用适当的方法测定。出厂检验可在环形试块加工之前进行,BT6066-20046.2硬度和表面粗糙度应采用适当的方法测定63通孔夹角(两个面)应采用准确度优于土0.1”的适当方法测定64尺寸641通孔直径,通孔中心至外环边缘距离(两个面),应采用准确度优于±001mm的适当方法测定,642相邻两通孔中心之间距离(两个面),试块外径、内径和厚度,绝缘衬套外径、内径和厚度,导电芯棒直径和长度,应采用准确度优于±01mm的适当方法测定643(试块与绝缘衬套、绝缘衬套与导电芯棒)紧密性,试块与导电芯棒之问的同心度,应采用适当的方法测定7检验规则71组批规则7.11材料每批由同一炉号、同一热处理(退火或未退火)状态的材料数量组F7.12试块每批由每件环形试块单独组成72检验分类721型式检验下列之一情况时,宜进行型式检验:a)新生产,转产或停产后复产时b)材料或工艺改变时c)合同规定时d)上次型式检验已超过24个月时环形试块的型式检验应由独立实验室进行,独立实验室应出具一份执行本标准的检验报告722出厂检验(或批量检验)环形试块的制造商应对每件环形试块产品进行出厂检验,并出具一份执行本标准的检验证书73检验项目73.1B型试块B型试块的检验项目见表1表1B型试块的检验项目检验方法依据章条技术要求依据章条通孔直径孔中心至外环边缘距寓(两个面相邻两通孔中心之间距离(两个面)6.4.2642试块内径6426421)独立实验室是经过认证或是受有关主管部门委托的专业机构,并且了解和熟悉磁粉检测过程,合格的独立实验室名录可以从全国无损检测标准化技术委员会秘书处获得JB/T6066-20047.32E型试块E型试块的检验项目见表2表2E型试块的检验项目检验项目检验方法依皋条技术要求依据章条化学成分晶粒度5.22表面粗糙度通孔夹角(两个面通孔直径通孔中心至外环边缘距离(两个面试块外径642试块内径试块厚度64.252.1绝缘衬套外径6.4.252.1绝缘衬套内径绝缘衬套厚度5.2.1导电芯棒直径52.15.2.115(试块与绝缘村套、绝缘套与导电芯摔)紧密性5.2.1□16试块与导电乙棒之间的间心度6435.2.8标记81总则每件环形试块产品上应刻有永久性的标准化项目标记试块上的永久性标记不应影响试块的使用性能82标记格式不形试块标准化项目标记的格式可以是如下任一种:a)“环形试块JB/T606试块类型符号"b)“JB/T6066试块类型符号";c)“环形试块试块类型符号标记中各要素的含义如下:试块类型符号—用大写英文字母表示,即:B型试块为B、E型试块为E83示例以符合B6066的B型试块产品为例,其标记可以为:环形试块JBT6066B标记中各要素的含义如下:9标志和标签91环形试块的标志或标签应至少包含:a)制造商名称、商标或识别标志、详细地址b)产品名称、型号和规格、产品标准编号、产地JBT6066-20c)可追溯的产品编号92标志或标签应出现在包装上10包装、运输和贮存10.1环形试块经防锈处理后,每件宜单独用硬盒包装,以防止试块生锈和损伤。102制造商应在包装上说明运输和贮存的要求,以避免环形试块受损103产品交付时的随行文件应包含:a)产品合格证b)产品使用说明c)型式检验报告(合同规定时)d)出厂检验证书(合同规定时)JBT6066-2004参考文献GB19包装储运图示标志(GB19-200,eqso780:1997)GBT223(所有部分)钢铁及合金化学分析方法[3]GBT230金属洛氏硬度试验方法(GBT230-1991, neq iso6508:1986)4]GB/T1031表面粗糙度参数及其数值(GBT1031-1995, neq Iso468:19825GBT1958形状和位置公差检测规定6GB3177光滑工件尺寸的检验(GBT3177-1997, neq Iso/R1938:1971)m7GBT6388运输包装收发货标志GBT6394金属平均晶粒度测定法(GB/T63942002, ASTM E12-1996,MOD)9]GB996.1工业产品使用说明书总[0]GBT14436工业产品保证文件总则[IU ASTM Et444-01 Standard Practice for Magnetic Particle Examination

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