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FPGA器件在高速测试系统上的测试方法

期刊名字：电子测量与仪器学报
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论文作者：郭士瑞，冯建科，房征
作者单位：北京自动测试技术研究所
更新时间：2023-01-26
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论文简介

FPGA是可由用户配置的高密度ASIC芯片,本文以Xilinx公司的RAM型FPFA为例,介绍了一种用高速测试系统实现GPGA器件测试的方法.阐述了如何用测试仪对FPGA进行在线配置、功能测试和参数测试.

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