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半导体分立器件测试系统研制

期刊名字：工业控制计算机
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论文作者：乔爱民，王艳春，戴敏，史金飞
作者单位：蚌埠学院,东南大学
更新时间：2023-03-24
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论文简介

半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备.介绍了一种基于ARM微处理器S3C44BOX的半导体分立器件测试系统.在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后,概括介绍了测试系统的软硬件设计.

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半导体分立器件测试系统 S3C44BOX 测试回路工艺参数编辑测试功能函数