FPGA测试技术研究
- 期刊名字:微处理机
- 文件大小:
- 论文作者:XUE Hong,赵欣
- 作者单位:中国电子科技集团公司第四十七研究所
- 更新时间:2023-01-26
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论文简介
随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.FPGA测试对技术人员极具挑战性.首先介绍了SRAM型FPGA的结构概况,总结出FPGA的测试方法并应用于FPGA电路的实际测试,对FPGA测试技术进行了有益的探索.
论文截图
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