氧等离子体对GaN HEMT器件的影响
- 期刊名字:电子世界
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- 论文作者:刘杰,杨兵
- 作者单位:北方工业大学信息工程学院
- 更新时间:2023-03-20
- 下载次数:次
论文简介
研究了不同条件下氧等离子体对GaN器件表面的影响。在合适的条件下,氧等离子体可以使AlGaN表面发生氧化,形成Al2O3薄氧化膜,提高肖特基势垒,从而降低GaN器件的阈值电压,提高器件导通电流。该结果可望用于更高性能AlGaN/GaN HEMT器件制备的应用中。
论文截图
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