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数显卡尺检定问题的解决

期刊名字：电子产品可靠性与环境试验
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论文作者：易军
作者单位：工业和信息化部电子第五研究所
更新时间：2022-12-22
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论文简介

介绍了数显卡尺的原理,提出了如何解决检定过程中遇到问题的办法,以及使用时应注意的事项.

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数显卡尺检定维护