FLASH测试的研究分析

Flash技术是当今存储技术的主流，它基于EPROM和E2PROM混合的技术。目前，FlashMemory被集成在绝大多数soc芯片中，于是FIashMemory测试就成了SoC电路测试中必不可少的一个步骤。本文通过对FlashP．OM的工作原理进行分析，详细解总FlashCELL，分别描述了NANDFlash和NoRFlash的工作方法。对Flash ROM的失效与可靠性问题及随之而来的测试要点进行列举，然后通过NoRFlash的一个典型应用进行分析，详细描述了其内嵌的Flash的用户模式和各种测试模式，以及解释了测试模式的意义，并对测试中用到的部分专业名词进行了解释。