基于单光源投影的细丝动态测量方法

细丝尺寸的波动影响到相关产品的质量.目前细丝尺寸的测量有光电能量法、激光束扫描法、激光衍射法、投影成像法等;对于线径0.1～1.0mm细丝线,我们采用半导体激光作单光源、菲涅尔双棱镜(Fresnel)产生双光源投影照射细丝线、CCD信号检测的方法,获得细丝动态测量关系式;通过对动态投影尺寸的测量,获得较好的检测精度,解决了细丝生产工序的复杂性、波动性导致的动态质量监控问题.