基于ATE的FPGA测试方法

期刊名字：电子测试
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论文作者：吉国凡，赵智昊，杨嵩
作者单位：
更新时间：2023-01-27
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论文简介

本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FPGA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法.

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