新型IDDT测试的BIST测试生成器设计 新型IDDT测试的BIST测试生成器设计

新型IDDT测试的BIST测试生成器设计

  • 期刊名字:电子质量
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  • 论文作者:刘莹莹,陈卫兵
  • 作者单位:阜阳师范学院物理系
  • 更新时间:2023-01-26
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论文简介

内建自测试(BIST)是一种有效降低测试开销的技术,在瞬态电流测试中得到了应用.本文给出了一种新型的瞬态电流测试BIST测试生成器设计方案,该设计可以产生所需要的测试向量对,同时具有硬件开销小的优点.

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