半导体器件的温度测量 半导体器件的温度测量

半导体器件的温度测量

  • 期刊名字:科学技术与工程
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  • 论文作者:马志凌,郑学仁
  • 作者单位:华南理工大学物理科学与技术学院
  • 更新时间:2023-03-23
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论文简介

测量正在工作的半导体器件温度有很多种方法.这些方法大概可以分为三类:电学方法、光学方法和物理接触方法.介绍了各种方法的物理基础,并且对每种方法的优势、劣势以及空间解析度及需要特别注意的问题等进行了讨论.

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