JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪

JB中华人民共和国机械行业标准JB / T 8393- 1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪1996-04-16发布1996-10-01实施中华人民共和国机械工业部发布前言本标准参照采用的ISO2178-1982和ISO2360- -1982 是方法标准，其精度要求是确定本标准仪器准确度的唯-依据.体现了本标准与国际标准接执的精神。本标准由北京市计量科学研兖所提出。本标准由长沙科学仪器研究所归口。本标准主要起草单位:北京市计量科学研充所。本标准参如起草单位:机槭部仪器仪表综合技术经济研究所、北京亚中仪器有限公司、北京时代奥团公司、武汉材料保护研究所、北京重型电机厂。本标准主要起草人:吴迅、苏桂兰。本标准参加起草人:龙成章、徐达、彭雪莲、宋檀堤、李燕平。中华人民共和国机械行业标准JB / T 8393 -1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪1范围本标准规定了磁性和锅流式覆层厚度测量仪的要求、试验方法、检验规则、标志标签、包装等。本标准遁用于磁性和锅流式覆层厚度测量仪(以下简称覆层测厚仪)。2引用标准下列标准包含的条文，通过在本标准中引用而构成为本标准的条文,在标准出版时，所示版本均为有效。当下列标准被修订后，使用本标准的各方应操讨使用下列标准最新版本的可能性。GB4956- -85 磁性金属基体 上非磁性覆管层厚度测量磁性方法GB4957--85非进性金属 基体上非导电覆盖层厚度测量枫流方法GR6587.1-86电子测量仪器 环境试验 总纲GB6587.2- -86电子测 量仪器温度试验GB6587.3-86电子测 仪器、湿度试验GB6587. 4- -86电子测量仪器 报动试验GB6587.5-86电子测量仪器 冲击试验GB6587.6-86电子测量仪器 运输试验GB6587.7-86电子测 量仪器基本安全试验GB6593- -86电子测量仪器质量检验 规则GB11463--89电于测量仪器可靠性试验方案ZBY003-81仪器仪表包装 通用技术条件3定义本标准采用下列定义。3.1覆层及覆层厚度“覆层”是指覆盖于某种基体上的以实现保护、装饰或其他功能的镀层、涂层、氧化腱.贴层和數层等。“覆层厚度”:以覆层的上表面为上限。以基体的上表面为下限.从垂直覆层表面的方向测得的上下限之间的距离。3.2法体、校准基体和基体最小厚度“基体"是具有一定厚度的几何体.它可以是铁磁性材料,也可以是非铁磁性导电材料。“校准基体"是具有一定厚度的上工作面为平面的几何体。“基体最小厚度”:基体的最小厚度与检测仪器的探头有关。当基体厚度小到某一厚度时。基体对测盘结果的形响仍可以忽略,则此厚度即为该仪器探头的基体最小厚度。机械工业部1996- 04- 16批准1996- 10-01实施JB/ T 8393 -19963.3校准片的实际值在校准片的有效范围内,其中心点五次测得厚度尺寸的平均值。3.4校准片的均匀度在校准片的有效范围内，其他部位对中心点厚度尺寸的最大差值.并冠以“土”号。4仪器分类与命名仪器应由主机、探头。校准片和校准基体等组成。4.1仪器分类按仪器准确度的高低分为AA、A、B.C、D五类,与其相应的该仪器进行校准时所需的校准片和校准基体也分为五类.其各自的要求详见表1。表1仪器分类单位:pm仪器类别AAACD仪器的准确度t (0.5 +0.005H)土(1 +0.01H) t (1.5+0. 03H){+(2 +0.05H)超过土(2 +0. 05H)校准片的 ≤50上0.15土0.3+0. 5上1.0-1.5均匀度> 50上0.003h :主0, 006h出0.01h+0. 02h+0. 03h校准表面粗糙度(Rs)0.20.30.40.50.7基体平面度*1.01.52.0注: 1. H一-仪器的测得值:2. h--校准片的实际值;3. *--平面度许凸不许回。4.2仪器的品种、规格在产品标准中,应给出厦层涛厚仅的晶种、型式结构简图、外形尺寸、重量、基体最小厚度和最小可测曲率半经亭有关技术数据。校准片的配置.仅器的每个量程至少应配置一片经计量部门检定合格的校准片。基体材料的物理待性.对于藏性仪器的基体应为铁磁性材料，对于祸流式仪器的基体应为非铁兹性导电材料。4.3仪器命名4.3.1覆层厚度到量仪采用如下的方法命名:C或WH一口口产品改型标志厚度测量仪.覆层磁感应式或涡流式4.3.2校准片采用如下的方法标注:JB/ T 8393-1996XXXXxxxxx校准片的型号或编号校准片的实际值_校准片的均匀度I5要求5.1使用条件环境温度: 0~40C;环境湿度:20% ~90%RH;周围无振动、无较强数场和腐蚀性气体。5.2 外现质量5.21产品外表应整洁，无明显划痕和损伤。铭牌、标志应完整清晰。5.2.2数字显示应清晰、无闪烁。无缺笔划和连笔现象;指示表表盘刻线应清晰、无断线。5.2.3接插件应连接可苏,开关及按键应有效.指示表表针运动应无粘滞、卡针、爬行现象。5.2. 4探头的各活动部件应配合良好，运动灵活，无阻滞现象。5.2.5打印机走紙正常，打印字遵清晰。不变形,无缺笔划现象。5.3功能仪器具备的所有功能应正常有效:5.4操头的测量 力5.4.1测量力范围:一般要求0.3~1.5N。5.4.2测量力的变动性:应不超过士1/ 3F.F- -10次测量力的平均值。5.5 仪器的准确度仪器的准确度应符合仪器分类中相应准确度的要求，详见表1。5.6仪器的示值变动性应不大于仪器准确度的三分之一。5.7 仪器的示值稳定度仪器示值在二小时内的漂移盘应不大于仅器准确虔婴求的绝对值。5.8电源电 压变动对仪器示值的影响由电源电压变动引起的仪器示值变化应不超过仪器准确度中的第一项的规定。5.9校准片5.9.1外观质量:a.标志完整皆楚b.工作表面应无明显压瓶，划痕大小应不影响校准片的使用准确度。5.9.2准确度校准片实际值的准确度应符合仪器分类中相应均匀度要求的二分之一。详见表1。:5.9.3 均匀度校准片的均匀度应符合仪器分类中相应均匀度的要求,详见表1。.JB / T 8393 -19965.9.4测量力对校准片的影响一般要求探头测量力在0.3~1.5N范围内.校准片的实际值应符合5.9.2项的要求。5.9.5使用寿命在符合使用要求条件下.探头在校准片的有效范圈内,连续测量不少于500次，其结果应符合5.9.2和5.9.3项的规定。5.10校准基体5.10.1校准基体厚崖应大于仪器要求的基体最小厚度。5.10.2校准基体 上工作面的表面粗糙度Ra应符合仪器分类中相应粗糙度的要求，详见表1.5.10.3校准基体 上工作面的平面度应符合仪器分类中相应平面度的要求,其上工作面许凸不许凹。详见表1。5.11.安全使用220V交流电时.功能绝缘电阻值应不小于2MQ。6试验方法6.1试验条件6.1.1 主机试验应在室温20土5C.校准片试验应在室温20上2C。湿度均为40% -75% RH,周围元较强磁场干扰、无强器振动的环境下进行。6.1.2试验设备a.校准片检定装置一台;b.校准片一组;d.可调式(直流)稳压电源 台;e.数字电压表一台:f.分度值不大于 0. 02mm卡尺- .把;g.0级刀口尺一把:h.触针式电动轮廓仪一台:i.测力仪一台。以上试验没备的选择.要根据被测覆层测厚仪的种类(避性的，还是祸流的).及推确度类别的要求阳确定。6.2外观质量手动试验。目力观察。6.3功能涅项试验。6.4探头的测量力将探头垂直压向分度值不大于0. IN测力仪的工作台面上，当探头外护套基面与探头测量面在同一平面时。记下测力仪读数，连续测量10次。取其平均值作为试验结果,应符合5.4.1项规定。测量值的最大和最小值之差应符合5.4.2项规定。6.5 仪器的准确度对已校准的覆层测厚仪，采用一组相应类别的校准片和校准基体对仪器同- -个量程大致分为3~5个等分点，且含测昼范圈的上限和下限。在校准基体和校准片的中央部位进行试验，每点测量五次。取其JB / T 8393 -1996U≈H-h式中:h一-校准片 的实际值。对仪器的每一个量程均进行上述的试验。仪器各点准确度均应符合5.5项的规定。6.6仪器的示值变动性 :选择仪器相应量程档，在校准基体中央位放t-一个校准片,同-点连续测量10次，其最大值与最小值之差作为试验结果，应符合5.6项规定。6.7 仪器的示值稳定度选择仪器最小量程档，在校准基体中央位放t-一个数值大于2/3量程的校准片.将探头垂直压向校准片.并使其固定。记下第一次读数，以后每隔30分钟记一次读数,连续记录2小时，其最大值与最小值之整作为试验结果。应符合5.7项规定。6.8 电源电压空动对仪器示值的影响选择仪器最小量程档,在校准基体中央位置放置-一个数值大于2/3量程的校准片。将可调式直流隐压电源或可调式变压器搂在仪器电源端。用电压表監视。将电源输出电压按仪器使用要求的上、中、下三个值进行调整。每个值下读数三次，其平均值记为H H2、H,按下式计算仪器示值变化0,和A:01=H- Hs.....................20z=H,- H .A1.0均应符合5.8项规定。6.9 校准片6.9.1外观质量目力观察。6.9.2准确度校准片实际值的准确度，用经计量部门检定合格相应准确度等级的长度仪器(该仪器的准确度为校准片准确度的1/3或1/ 2,该仪器的测量力应不大于1.5N)测量校准片的中心点的厚度值,取五次测得厚度尺寸的平均值,其与校准片的实际值之差应符合5.9.2项规定。6.9.3 均匀度校准片的均匀度用经计量部门检定合格相应准确度等级的长变仪器(该仪器的准确度为校准片准确度的1/3或1/ 2,该仅器的测量力应不大于1. 5N)进行测量。校准片的受检区域为距边缘5mm以内的部位，受检点应均勺分布,其最大间隔应不大于10mm。校准片的其他部位受检点对中心点厚度尺寸的最大差值，并冠以“t"号作为测量结果应符合5.9.3项规定。6.9.4 测量力分别用测量力为0. 63N、1N、1.5N三种电感式比较仪的测量美对同一校准片进行测量.校准片的实际值应符合5.9.4项的规定。6.9.5使用寿命 ;对同- -块校准片,在受检区城内，按要求的测量力进行不少于500次的测量，其实际值应符合5.9.56.10 基体6.10.1基体厚度根据仪器要求基体最小厚度、选捧相应的测长仪器或量具进行测量。测量部位均匀分布,不少于四个位置，每个位置的基体厚度值均应符合5.10.1项规定。JB/ T 8393 -19966.10.2基体上工作面的表面粗糙度 Ra用触针式电动轮席仪进行测量,其结果应符合5. 10.2项的规定。6.10.3基体上工作面的平面度用一级刀口尺以光歐法进行判章或用二级平晶以技术光波干涉法进行测量，其结果应符合5.10. 3项的规定。6.11 安全按GB6587. 7- -86有关规定进行试验.应符合5.11项规定。7检验规则产品检验分出厂检验，型式试验进行。7.1产 晶出厂检验应按本标准的5.2-5. 11(除5.9.3外)项进行。检验合格的发给产品合格证，准于出厂;检验不合格的，不准出厂。7.2产品型式试验7.2.1有 下列情况之一时，进行型式试验。新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定;b.正式生产后 ,如结构、材料、工艺有较大改变.可能影响产晶性能时;e.i正常生产时， 定期或累积一定产量后，应周期性进行--次检验:d.产品长期停产后， 恢复生产时:e.出厂检验结果与上次型式试验有较大差异时;f，国家质量监督机构撼出进行型式试验的要求时。7.2.2试验项目和试验方法产品型式试验按本标准的5.2-5.11项进行;环境试验按GB6587. 1-. 7-86 I组进行:可箱饶试验按GB11463- -89进行。7.2.3抽样方案及 合格判据按GB6593-86进行。8标志.标签、包装8.1产品标志、 标签在产品主机上应有如下标志、标签:a.割遗厂名:b.商标:c.产品名称和型号;d.制造日期及编号:e. CMC 标志及许可证编号。.8.2包装8.2.1仪器包装应符合 ZBY003- -84的有关规定。仪器外包装箱上应有商标、产品名称、产品型号、制造厂名、厂址、重量、体积及“小心轻效”、“防潮”，“防震"等字样及围形标志。8.2.2产品随机文件产品合格证;b.产品说明书:c装箱单;JB/ T 8393 -1996d.质量保证和保修卡;e.. 用户意见征询卡。8.3运输产品经包装后。可用常用交通工具运输.但应免丽、冒淋湿和机械碰撞。8.4贮存贮存环境条件:a.温度: -40-+ 60C;b.湿度: < 80%RH;c.流通条件:二级。