基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试

期刊名字：微电子学
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论文作者：唐恒标，冯建华，冯建科
作者单位：北京大学,北京自动测试技术研究所
更新时间：2023-01-26
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论文简介

FPGA在许多领域已经得到广泛应用,其测试问题也显得越来越突出.文章针对基于SRAM结构FPGA的特点,以Xilinx公司的XC4000系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在BC3192V50测试系统上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试.它是一种基于测试系统的通用的FPGA配置和测试方法.

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