宽禁带功率半导体器件技术 宽禁带功率半导体器件技术

宽禁带功率半导体器件技术

  • 期刊名字:电子科技大学学报
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  • 论文作者:张波,邓小川,陈万军,李肇基
  • 作者单位:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
  • 更新时间:2023-03-24
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论文简介

碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)是第三代半导体材料的典型代表.与常规半导体硅(Si)和砷化镓(GaAs)相比,宽禁带半导体具有宽带隙、高饱和漂移速度、高临界击穿电场等突出优点,是大功率、高温、高频、抗辐照应用场合下极为理想的半导体材料.该文总结了宽禁带SiC和GaN功率半导体器件研发的最新进展,包括各种功率二极管和功率晶体管.同时对宽禁带SiC和GaN功率半导体器件发展所面临的市场和技术挑战进行了分析与概述,并对其发展前景进行了展望.

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