FPGA测试技术及ATE实现

随着FPGA的规模和复杂性的增加,测试显得尤为重要.介绍了SRAM型FPGA的结构概况及FPGA的测试方法,以Xilinx公司的spartan3系列芯片为例,利用检测可编程逻辑资源的多逻辑单元(CLB)混合故障的测试方法,阐述了如何在自动测试系统(ATE)上实现FPGA的在线配置以及功能和参数测试,为FPGA面向应用的测试提供了一种可行的方法.