JB/T 10007-1999 大外径千分尺（测量范围为 1000mm～3000mm）

Cs25.060.20J中华人民共和国机械行业标准JB/T10007-1999大外径千分尺(测量范围为1000~3000mm)Large external micrometer99905-20发布2000-01-01实施国家机械工业局发布JBT10007-1999前言本标准是在ZBJ4200487《大外径千分尺(测量范围为1000m至3000m)》的基础上修订的本标准与ZBJ4200487的技术内容一致,仅按有关规定重新进行了编辑。本标准的附录A是标准的附录本标准自实施之日起代替ZBJ4200487。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口本标准负责起草单位:哈尔滨量具刃具厂本标准参加起草单位:青海量具刃其厂、成都量具刃具厂、北京第二量具厂。本标准主要起草人:杨川罗迪秋、李静华、徐稠。本标准于1987年首次发布。中华人民共和国机械行业标准JB/T10007-1999大外径千分尺(测量范围为1000-3000mm)代替ZBJ4200487Large external micrometer范围本标准规定了大外径千分尺的型式与尺寸、技术要求、标志与包装等。本标准适用于分度值为0.01mm、测微螺杆螺距为05mm或1mm、量程为25mm或50mm、测量范围为1000-3000mm的大外径千分尺(以下简称大千分尺引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GBT1219-1985百分表3定义本标准采用下列定义1大外径千分尺利用螺旋副原理,对尺架上两测量面间分隔的距离进行读数的外尺寸测量器具,其分度值为001mm,测量下限等于或大于1000mma3.2示值误差刻度指示值与两测量面实际分隔的距离之差3.3测微头的移动偏差沿测微螺杆全量程得到的示值误差曲线上,曲线的最高点与最低点在纵坐标上的差值4型式与尺寸4.1测砧为可调式的大千分尺型式见图1(图示仅作图解说明,不表示详细结构)其测量范围如下1000-1200mm,1200-1400mm,1400-1600mm,1600-1800mm,1800-2000mm,2000-2200mm2200~2400mm,2400-2600mm,2600-2800mm,2800-3000mm4.2测砧为带表式的大千分尺型式见图2(图示仅作图解说明,不表示详细结构)。其测量范围如下:1000-1500mm,1500-2000mm,2000-2500mm,2500-3000mm4.3大千分尺固定套管的刻度数字,除了特别规定之外,应按表1的规定。4,4测微螺杆和测砧的测量端直径应为8mm。4.5大千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测微螺杆的锁紧装置。国家机械工业局199905-20批准2000-01-01实施JBrT10007-1999力装置测砧紧因螺有活动测砧锁案装置图表1测微头量程刻度数字标记20,255.1大千分尺不得有影响使用性能的外部缺陷5.2大千分尺测微螺杆的移动应平稳、灵活,无卡滞现象,其轴向和径向间隙应不大于01mm5.3大千分尺两测量面不应有明显的偏位。5.4固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度应为015-020mm,刻线宽度差应不大于003mm5.5大千分尺对零位时,微分筒锥面的端面至固定套管刻线的距离允许压线不大于005mm,离线不大于010mme5.6大千分尺固定套管纵刻线表面至微分简锥面棱边的距离应不大于040mm5.7大千分尺测量面的硬度应不低于766HV(≈62HRC58大千分尺测量面的表面粗糙度R值为004m5.9大千分尺测量面与球面接触时的测量力应为8-12N,测量力的变化不大于2N。5.10大千分尺测量面的平面度公差为06m。5.11大千分尺测微头在25mm量程范围内的移动偏差应不超过3m;在50mm量程范围内的移动偏差应不超过5μm。5.12大千分尺的示值误差、两测量面的平行度以及尺架在沿测微螺杆轴线方向受1N力时的变形,不大于表2的规定。表2测量范围示值误差两测量面的平行度尺架受12N力时的变形测砧为可调式的大千分尺2000-2200测砧为带表式的大千分尺5.13大千分尺应附有调整零位的工具和校对量杆;校对量杆尺寸偏差见表35.14校对量杆测量面的硬度应不低于766HV(=62HRC5.15校对量杆测量面的表面粗糙度R值为004μm5.16测砧为带表式的大千分尺,其技术要求需增加如下规定。5.16.1百分表的测量范围应为0-10mm,其技术要求应符合GBT1219的规定5.16.2百分表应安装牢固、可靠,并建议装有防护表罩。5.16.3百分表安装时,其预压缩量应不小于0.5mm5.16.4百分表测量杆与活动测砧的接触应可靠。推动测砧时,百分表测量杆的移动应平稳、灵活不得有卡滞或松动现象。5.16.5百分表测量杆轴线应与测砧移动方向一致JB10007-1999表3尺寸偏差标称尺寸尺寸保差1025,1075,1125,11752025,2075,2125,217525,23751425.1475,1525,15752425,2475,2525,2575±261625.1675,1725,1775725,27751835.183195,1952825,2875,2925,29751对零位时应对校对量杆尺寸偏差进行修正2校对量杆应附有接套,并应有隔热装置。6标志与包装1大千分尺上应标志a)制造厂厂名或注册商标;b)测量范围;c)分度值;d)产品序号。62校对量杆上应标志标称尺寸6.3大千分尺的包装盒上应标志:a)制造厂厂名或注册商标b)产品名称;c)测量范围。6.4大千分尺在包装前应经防锈处理并妥善包装,不得因包装不善而在运输过程中损坏产品。6.5大千分尺经检定符合本标准要求的,应附有产品合格证;产品合格证上应标有本标准的标准号产品序号和出厂日期JBr10007-1999标准的附录)大千分尺的检查方法本附录是关于生产厂出厂检验大千分尺的测试方法A1测微头的移动偏差将测微头仔细地紧固到夹具或平板上,并在接近于测微螺杆测量面安装一个长度合适、具有一个球测量面的临时固定测砧,然后用表A1所列尺寸系列的一组1级(或4等)精度的量块进行检验表A125,51,77,103,129,15,176,20.2,22.8,2525,77,129,176,22.8,301,35,3,40,452,.50根据各受检点的示值机构指示值与量块实际尺寸之差绘制示值误差曲线,由曲线的最高点与最点在纵坐标上的差值求得。A2示值误差大千分尺的示值误差可用内径千分尺或校对量杆检验。检验时,先在测微头的下限(或上限)位置上,用校对好的校对量杆或内径千分尺校对零位,然后转动微分筒至测徵头的上限(或下限)位置,并用第二次校对好的内径千分尺或校对量杆检查测微头上限(或下限)时的示值,测微头上的指示值与内径子分尺或校对量杆的实际尺寸之差即为大千分尺示值误差。该检验至少应在大于分尺的上限和下限两个位置上进行。如果大千分尺带表,则应在对零位时使表和测微头同时对零,检验时将测微头旋至名义尺寸,在表上读取示值误差值A3尺架受12N力时的变形将大千分尺一端固定后,用专用量杆对零位(包括量杆重量对尺架的影响).再在另一端加36N的力,由测砧上的百分表(测砧为带表的)或测微头(测砧为可调式的)上读取数值,然后折算成尺架受12N力时的变形值A4轴向间隙和径向间隙A4.1用手感检查轴向间隙。如有异议时,则在专用检具上测出轴向间隙值。A4.2用手感检查径向间隙。如有异议时,则在专用检具上、在距尺架内端面10mm处测出径向间隙A5测量力和测量力变化在千分尺专用测力计上测出大千分尺的测量力和测量力的变化值JBrT10007—1999A6测量面硬度在距测量面1mm的光滑圆柱部分处进行测量,对于硬质合金测量面该项检验可以免检7两测量面的偏位将大千分尺尺架平放在平台上的三个可调支承架上,调整支承架使测微螺杆伸出部分轴线与平台平面平行,分别测出测微螺杆和测砧至平台平面之间的距离,两距离的差值为水平位置偏位8然后将大千分尺尺架围绕测微螺杆轴线转动90°,使尺架与平台平面垂直,按上述步骤测出尺架垂直位置的偏位8,两测量面的偏位由式(A1)计算测量范围为1002000mm的大千分尺,两测量面的偏位应不大于15mm;测量范围为20003000mm的大千分尺,两测量面的偏位应不大于20mmA8两测量面的平行度用专用检验量杆进行检验。该项检验至少应在靠近测量上限和测量下限两处检验