

W或C添加剂对优化CuCr25合金显微组织的作用
- 期刊名字:稀有金属材料与工程
- 文件大小:104kb
- 论文作者:王立彬,张程煜,丁秉钧
- 作者单位:西安交通大学金属材料强度国家重点实验室
- 更新时间:2020-12-22
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第32卷第1期稀有金属材料与工程Vol. 32, No. 1003年1月RARE METAL MATERIALS AND ENGINEERINGJanuary 2003W或C添加剂对优化CuCr25合金显微组织的作用王立彬,张程煜,丁秉钧(西安交通大学金属材料强度国家重点实验室,陕西西安710049)摘要采用真空感应熔炼法制备CuCr25(W),与Cr25(C)合金 研究不同合金元素W C对CuCr触头微观组织的影响。研究结果表明,W和C能够显著细化Cr相晶粒,W对Cr相晶粒还有球化作用同时对Cr相进行了强化。使合金整体性能得到提高其中耐电压强度得到显著提高。关键词:CuCr触头材料;湿微组织真空感应熔炼中图法分类号:TM241文献标识码:A文章编号:1002-185X(2003 )01 -0041-04CuCr25触头材料是国外广泛使用的1种重要.含W与C的CuCr25合金微观组织得到优化,耐电压真空断路器触头材料。增大CuCr合金中的Cu含量强度得到提高。本实验原料为Cr块不是Cr粉,成本可以增大材料的热传导率,降低分断过程中表面的降低。整个生产周期约2h并且产量大,适合于触头温度和减少熔化层的厚度,从而减少电流过零时的材料的大规模生产。重燃1.21。目前国际上生产的CuCr25主要有真空自耗熔炼1实验和混粉烧结两种方法13。西门子公司采用真空自耗熔炼法制备CuCr25合金,产 品性能优异,但制备工艺复采用真空中频感应熔炼制备CuCr25并加少量W杂,并且CuCr25自耗电极需预先制作,生产周期长,(以下简称CuCr25(W))制备CuCr25并加0.2%的C产品成本高。西屋公司用混粉烧结法制备的CuCr25(以下称CuCr25(C) ,Cu, Cr按质量比为75:25,配置合金质量并不理想,比如氧含量高,致密度较低,生产Cu块、Cr块、W粉(粒度为0. 6μum~3. 0μm)与C块。效率低。近年来国内采用真空感应熔炼法(VIM)制备将Cu, Cr块放入坩埚中抽高真空(1x10-Pa~3xCuCr25合金(4-61 ,然而,这些CuCr25合金的Cr均以10-2Pa )进行熔炼,完全融化后熔液温度为1 800C ~较大枝晶的形态分布于Cu基体上。1 900C ,W粉(或C块)在精炼的后期加入然后将熔研究表明,触头材料显微组织的对CuCr触头材液注入蜡模中凝固,得到合金。为与不加入合金元素料的性能有非常大的影响。例如CuCr 触头材料中Cr的合金进行比较用相同方法制备CuCr25合金。相为电击穿弱相17],粗大Cr枝晶的存在将显著降低采用阿基米德排水法测量密度,用FQR-7501型CuCr25合金的耐电压强度。而Cr相尺寸的细化及球涡流式电导仪测量电导率,用布氏硬度计测量硬度,化可在开断性能及抗融焊性能无明显变化的情况下用LECO红外氧氮分析仪测定氧氮含量。提高耐电压强度降低截流值l8~ 10)。因此改变CuCr25将合金加工成φ20mmx5mm的试样,对其表面合金中的Cr相的枝晶形态,实现其显微组织的优化,抛光,装入由TDR-40A单晶炉改装成的真空灭弧室,是CuCr25合金研究中的1个急待解决的关键问题。试样为阴极抛光过的W杆为阳极,其半径为5mm,边因此,本工作研究了真空感应熔炼法制备CuCr25系缘半径为1mm。为除去电极吸附的气体将炉内温度合金的组织优化,采用添加W粉作为异质形核剂细升至500C真空度升至1.5x10-3Pa ,保持30mino当化了Cr相,并使晶粒球化,采用加C在高温下与铬形阴极冷却至室温后,在电极间加8. OkV的直流电压,成碳化物,作为异质形核剂同样细化了Cr相。这样,并 使阴桃中国煤化工阳极移动,当电击"THCNMH G收到初稿日期:2001-06-11 ;收到修改稿日期:2002-04-11基金项目:国家863计划资助项目( 715-005-0160 )作者简介:王立彬男,1974 年生硕士研究生西安交通大学材料科学与工程学院99109*陕西西安710049 ,电话029-2675208 ,万芳数据”agingg@ 263. net稀有金属材料与工程32卷穿发生时,停止移动,计算击穿电场强度。然后下移阴图3为VIM制备的CuCr25(W)合金的显微组织极准备下1次测试。每个试样测量100次,为排除老形貌,其成分分析见表1。Cr 相以颗粒状在基体中均炼的影响,计算击穿场强时均取后60个数据。表1 CuCr25W1 合金成分分布(质量分数)Table 1 Compositional distribution of CuCr25W1 alloy2实验结果 与讨论AlloyingAverage alloCopper richChromium richelementcompositionphase2.1成分及微观形貌Cu/%74.1197.89 .4.52 .熔炼时在电磁搅拌作用下Cu ,Cr充分混合,快速Cr/ %24.651.9592.85凝固条件下Cr受重力影响产生的偏析降低。图1为W/% _1.240.162.63VIM制备的CuCr25合金的典型组织,显示为枝晶,而且大部分以大枝晶存在, 单纯采用快冷很难进-步细匀形核,Cr 晶粒尺寸已经达到5μm~ 10μm消除了枝化Cr相。在断路器的运行过程中枝晶尤其是大枝晶晶并使Cr晶粒球化。Cr晶粒中的灰白斑点(如图4)(许多大枝晶达100um),不利于从Cr相向Cu相基体经能谱分析W含量相对很高(如图5)达到20.67%,散热,因而耐电压强度低。晶粒界面模糊;由Cr-W相图得知,有x相CrW;生合金化是细化晶粒的有效手段。图2为VIM制备成, CrW;以小分散的粒子形式存在于液体中, 由于的CuCr25(C)合金的显微组织形貌, Cr相以颗粒状CrW,熔点高,液体凝固时,起到非自发形核的作用,在基体中分布,仅有少量细小枝晶。由相图可知,在从而细化了Cr晶粒。但如果W粉加入不当,或分散. 1 900C左右, C几乎不溶于Cu ,C与Cr生成a相碳不好,则容易产生成分不均匀,如图6所示图中白亮化物,在凝固过程中,碳化物作为非自发形核核心形的区域经能谱分析为W,显然,W粉的这种团聚使成的Cr晶粒尺寸已经达到10μm~25μm,显微组织得Cr在这一区域减少,这将导致耐电压强度的降得到优化。低。这种缺陷只要是W粉加入过早引起,此时温度080241225”图1CuCr25合金显微组织图3 CuCr25(W) 合金显微组织Fig. 1 Microstructure of CuCr25 alloy after chemical etchingFig. 3Microstructure of CuCr25( W ) alloy after chemical etching只中国煤化工HCNM H G°082410 25 kV xl8d1003354 25 kV x30yiC0:00图2 CuCr25(C)合 金显微组织图4 CuCr25(W) 合金显微组织Fig.2- Microstructure of CuCr25()alloy after chemical etching Fig. 4 Microtructure of CuCr25(W) alloy afer chemical etching1期王立彬等:W或C添加剂对优化CuCr25合金显微组织的作用CrLi_」CuwwEnergy/ keV8D8687 86x500户m图5 Cr 相能谱分析图图6CuCr25(W)合金中W的团聚Fig 6 Aggregation of tungsten in CuCr25(W)Fig. 5 EDX of chromium rich phasealloy after chemical etching较低,分散不够好。所以,W粉要在温度最高时加抗电场引起的表面变形能力得到增强,可是弧后的.入,并增大功率,加强电磁搅拌,使W粉分布均微观突起程度减轻,从而降低局部场致电子发射能力,提高了触头间隙的耐电压强度。CuCr25(W)合2.2物理性 能金中球化的Cr晶粒向各方向散热均匀,耐电压强度表2为VIM制备的CuCr25(C)和CuCr25(W)合得到进一步增强。 对CuCr25而言,由于其枝晶组织金与其他方法制备的合金性能测试结果。可见这两本身引起的表面偏析较大,表面成分不均匀,必然种合金晶粒度细小,氧含量低,具有较好的导电存在某些耐电压低的区域,在强电场的作用下这些性,耐电压强度显著提高。区域更容易引发真空电弧,导致合金的耐电压强度对于CuCr25(C) , CuCr25(W)合金, Cr相受到下降。由于C在高温下与氧反应, CuCr25(C)合金的a相强化而均匀分布,硬度比CuCr25有所提高,抵.氧含量降低。表2 CuCr2( w等合金性能测试结果Table 2 Properties of CuCr25( C ) and CuCr25( W alloysAverage grainRelativeConductivityNitrogenBrinellBreakdownMaterials size of Cr phasedensity(MS m-1)contenthardnessfield/%/10- 6/HB/10*V m-ICuGr25 .20~ 10099.0125490508(2.62CuCr25( C)10~ 25.99.2223. 13583.78CuG25 W )5~ 1599.2722.4460914.05CuC:50*70~ 15099. 1218.743092.52CuCr25”20~ 509720~ 29<3000< 100* - -Conventional CuC50 prepared by sintering and infitrating method ;* *-Product requirements of Westing House corporation.(3): 1 088~1 0953结论[2] Spaic S, Komac M , Fetahagic A. Microstructure and Proper-ties of Sintered Cu-25Cr Alloy[J]. Material Science and Tech-nology, 1989,5 (11): 1 069~1 073合金化是1种有效的组织优化方法,对于真空感[3] Jia Shenli(贾申利). High Volage Apparatus(高压电器)[J] ,应熔炼法制备CuCr25合金,适量的C与W可以显著1995, (1): 33~ 36优化其显微组织得到性能优异的触头材料。[4] Zhao中国煤化工25 Alloys through Vacu-um.YHC N M H GJ]. The Chinese Journal参考文献Referencesof Nonferrous Metals 2000, 10 (1): 73 ~75[5] Zhang Chengyu( 张程煜),Wang Jiang6王江) . Rare Metal[1] Glinkowski M et al. Capaciance Switching with VacumMaterias and Engnering( 稀有金属材料与工程) [J] ,CircyBeabgrs[J]. IEEE Trans on Power Deliner, 1991,62001 ,(4): 286 ~ 289稀有金属材料与工程32卷[6] Wang Jiang(王江), Zhang Chengyu(张程煜)。Rare MetalMaterials [J]. IEEE Trans on CPMT, 1999, 22 (2): 467 ~Materials and Engineering( 稀有金属材料与工程) [J] ,~4722001 ,(4): 290~ 294[9] Rieder W emer F. Influence of Composition and Cr Particle Size[7] Zhao Feng(赵峰),Yang Zhimao(杨志懋)。The Study ofof CuCr Contacts on Chopping Current, Contact Resistance andCharacteristics of CuCr25W1Co1 Alloy [J]. Rare Metal Ma-Breakdown Voltage in V acuum Interrupter [J]. IEEE Trans onterials and Engiering( 稀有金属材料与工程),2000, 29CPMT, 1989, 12 (2): 273 ~283(1): 57 ~59[10] Ding Bingjun, Yang Zhimao. Influence of Microstructure on[8] Ding Bingjun, Wang Yaping. The Preparation and the Prop-Dielectric Strength of CuCr Contact Materials in a Vacuumerties of Microcrystalline and Nanocrystalline CuCr Contacts[J]. IEEE Trans on CPMT, 1996, 19A (1): 76~81Influence of W or C Adding on the Microstructure of CuCr25 AlloysWang Libing,Zhang Chengyu, Ding Bingjun(State Key Laboratory for Mechanicals Behavior of Materials, Xi' an Jiaotong University, Xi' an 710049, China)Abstract: The preparation of CuCr25(C) and CuCr25(W) alloys by vacuum inducing melting is presented in this paper. The influence ofdifferent alloy elements(C&W) on Crcrytalline grain is studied. And the sequent efects on the physical properties and breakdown volage arealso discussed. It is found that the mechanical strength and the voltage withstanding stress have been improved for the alloys with adding of Cor w.Key words: CuCr contact material ; vacuum inducing smelting; microstructureBiography: W ang Libing, Master, State Key Laboratory for Mechanicals Behavior of Materials, Xian Jiaotong University, Xian 710049,P. R. China, Tel: 0086-29-2675208, E-mail: wanglibingg@ 263. net《液相烧结粉末冶金材料》出版《液相烧结粉末冶金材料》由郭庚辰编审主编, 由韩凤麟教授审定。全书55.4万字,定价55元(含邮费) ,2002 年12月已由化学工业出版社出版。全书共分10 章,包括概论、硬质合金、高密度合金、W-Cu合金、钴基合金、铁基粉末冶金中的液相烧结、铜基粉末冶金中的液相烧结、烧结不锈钢、粉末冶金高速钢中的液相烧结、渗铜烧结钢另外还包括粉末冶金设备材料和制品。本书第2至第10章的最后一节,还列出了相关粉末冶金材料的牌号、成分、性能和应用,从而为其他行业工程技人员选用粉末冶金材料提供了方便。邮购请联系:100011北京市 东城区安外大街80号化工书店联系人燕佳宾电话D10- 84253318中国煤化工MYHCNMHG
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