PIND试验条件对集成电路性能影响的研究 PIND试验条件对集成电路性能影响的研究

PIND试验条件对集成电路性能影响的研究

  • 期刊名字:电子与封装
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  • 论文作者:杜迎,张国华
  • 作者单位:中国电子科技集团公司第五十八研究所
  • 更新时间:2022-12-04
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论文简介

PIND试验可以改变的试验条件有冲击加速度、振动加速度、振动时间和试验次数.将这些条件分成四种方案进行试验,通过器件的内引线键合拉力值和电源电流值的变化来反映该条件对器件的影响.然后从理论上对试验条件的影响做了研究,最后对数据进行分析,得出了影响器件最大的条件.

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