半导体器件寿命计算

论文简介

该文简要介绍通过半导体器件的环境试验计算器件寿命.首先介绍了4种加速模型,以及各模型的应用；其次,根据给定的置信度水平以及试验结果查×2分布表；而后,根据试验时间和样本量求得失效率；最后,根据电子元器件服从指数分布的假设条件,求得器件的寿命.

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