JB/T 8232-1999 自准直仪

免费标准下载网w.feebz.net)ICS 17.180.30N34JB中华.人民共和国机械行业标准JB/T 8232 - -1999自准直仪Autocollimators1999- 08- 06发布2000-01-01实施免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232 -1999前言本标准是对JB/T 8232- -95<《自 准直仪》的修订。修订时,对原标准作了编辑性修改,主要技术内容没有变化。.本标准自实施之日起,代替JB/T 8232- -95。本标准由全国光学和光学仪器标准化技术委员会提出并归口。本标准负责起草单位:上海光学仪器研究所、贵阳光电技术研究所。本标准于1979年首次发布。免费标准下载网w.febz.net)中华人民共和国机械行业标准准直仪JB/T 8232- -1999代普JB/T 8232- -95Antocollimators1范围本标准规定了自准直仪的基本参数及尺寸、技术要求、试验方法等。本标准适用于测小角度的自准直仪,不适用于准线仪和特殊用途的自准直仪。.2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。CB/T 1240 -1976光学 样板GB/T 11162- -1989 光学 分划零件通用技术条件CB/T 15464 -1995 仪器 仪表包装通用技术条件JB/T9329-1998仪器仪表运输运输贮存基本环境条件及试验方法3基本参数及尺寸仪器的基本参数及尺寸应符合表1的规定。表1求序号名。称目祝光电分格值0.20.2°测量范围.最大工作距离16m, 6mm平面反射镜反射面有效孔径≥60mm4技术要求4.1仪 器的外表应美观，并需保证下列质量:a)电镀表面不应有脱皮;b)漆面不应有油漆脱落现象和显著钓须色不均匀;c)零件表面不应有毛刺,外部零件锐边应倒棱;d;外部零件接合处应齐整,无粗楚不平现象。4.2仪器各工作面上,不应有锈独、碰伤、显著的划衰以及影响烈量的其他缺陷。国家机城工业局1999- 08- 06批准2000- 01-01实施免费标准下载网w.febz.net)JB/T 8232- -19994.3光学零件的表面不应有明显的擦痕、麻点、水珠、每点等疵病，胶合光学零件的胶合面不应有气泡和脱胶现象。4.4仪器上所有紧固件应保证固紧可靠。4.5仪器上所有的刻度、刻字应清晰,刻线刻字的技术条件应符合GB/T 1162的规定。4.6仪器各活动部分的移动和转动应平稳,不应有卡住、松动和急跳现象。4.7仪器电气部分性能应良好,绝缘应可靠。4.8仪器的光学系统成象应清晰。4.9光学 读数和瞄准装置不应有明显的视差。4.10测微装置薮轮上的读数窗应能同时观察到三个刻字。测微装置鼓轮上刻线宽度及其固定指标线刻线宽度应该相等。4.11当测微装置鼓轮处于零 位时,在目镜视场中观察,瞄准单刻线(或双刻线)应盖住(或套住)读数分划板的一根刻线。4.12仪器从水平面上测量转动到垂直面上测量时定位的正确性。4.12.1转动测微目镜头时,瞄准单刻线(或双刻线)与十字象的一条线应平行,不应有明显倾斜。4.12.2转动镜筒时， 十字象应在视场中心1/3 测量范围内。4.13仪器的主要技术指标应符合表2的规定。表2要求字光电指标名称号分各值0.2"!”0.2仪器的准确度1 任意1'范围内(规场中央3.5'-6.5")s0.5"1”0.5*10'范围内平面反射镜放在仪器最大工作距离处时.仪器的视场范围≥3| 目视瞄准的标准偏差(S)≤0.1S"0.25"0.15*仪器目镜的视度调节范围≥土5閎光度基座水准器的正确性仪器基座处于水平位置时,圆水准器的气泡应居中6| 瞄准单刻线(或双刻线)对十字象一条线的平行度0.4"瞄准单刻线(或双刻线)对仪器基座底平面0.47(或水平面)的平行座8视轴对仪器基座底平面的平行度”59| 视轴对仪器基座衡平面的平行度1’0| 衡微装置的空回误差0.51 |当用专用光栏检验时自准直光束的平行性2”3”22| 光电瞄准和目视瞄准的符合性3| 光电瞄雇时指示表指针偏转的对称度指示表全量程的1/52)4| 光电瞄准的标准偏差(S)0.05*免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232-1999表2 (完)要求序目光电指标名称号分格1"，0.2"光电瞄准的灵敏度15最高灵敏度档,全量程<0.3"最低灵敏度档,每格?216光电 瞄准时由于调节灵敏度所引起的指零变化指示表全量程的1/20光电蹈准的稳定性, 4内0.3”平面反射镜反射面对健座的垂直度对镜座底面20"对镜座侧面19平面反射镜反射面的面形偏差N0.25V0.120五棱 镜转折角9O的正确性≤土2”38mm x 38mm正方铁的要求正方铁直角90的正确性士3”"正方铁相邻三个工作面的面形偏差MON|正方铁相邻三个工作面表面粗糙度不低于0.02生1) 仅适用于无调平装置的仪器。2)指负 方向最大值至正方向最大值,下同，4.14仪器在运输包装的条件下,应能符合JB/T 9329的要求。其中高温试验选用+ 55C,低温试验选用- 40C。4.15根据用户的需要,制造厂应能保证全部(或部分)供应表3中的附件。表3件名平面反射德备用灯泡指示表(带光电装置的仪器)备用光敏元件(带光电装暨的仪器)五棱优38nmx 38um正方铁直角初谓器5试验方法.5.1仪器进行检验时,对仪器室内温度的要求:a仪器室内的温度应为 20C士3C,温度变化每小时不应超过0.5C;敏检仪器和检定工具在室内平衡温度的时间不应少于4ce5.2 4.1.4.2.4.3,4.8,4.9,4. 10须进行目测检验。5.3 4.4.4.6.4.7,4.11,4. 12须进行实际操作检验。5.4 仪器的准确度(4.13表2中第1项)3免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232- -19995.4.1试验工具a)小角度检定器 :10'范围内准确度不低于士0.15";b) 三等量块:1.00m一块从1.01mm~ 1.50mm尺寸差为0.01mm的各-块;c)500mmx800mm一级检验平板。5.4.2试验程序在小角度检定器上进行检验。检验时,将被检仪器安放在平板上,平板安置在小角度检定器的一侧(平板和小角度检定器必须在同一基体上),同时,在靠近平板一侧的小角度检定器上放置平面反射镜。被检仪器应使其光轴平行于两指示计测量轴线的连线。先在一指示计测帽下放置一块1.00m量块,后在另-指示计测帽下放置1.50m量块:调整两指示计指于零位,此时调整平面反射镜使其对准被检仪器，调整被检仪器使测微装置鼓轮处于零位左右。瞄准十字象，进行首次读数,之后在放置1.50m量块的指示计测帽下，依次放置按仪器各受检点所需要的相应尺寸量块,借助工作台升降微调螺钉,依次调整工作台,使之改变角度。直至使两指示计指于零位，此时小角度检定器依次产生了所需的标准角度。这时对被检仪器依次进行瞄准读数,各受检点对零位的读数差与标准角度之差,即为各受检点的误差。受检点的间隔:a)视场中央 3.5'~6.5’范围内为4.125*;b) c)项范围之外为 20.6"。标准小角度按式(1)计算:8”=毕.p=斗x 206265.......L式中:1E一-所用量块尺寸与对零量块尺寸的差值; .一-两指示计测头轴线之间的距离,如:C2型小角度检定器为500mm。如:用1.01mm和1.00mm量块,则:0" =; 0.01L x 206265≈4. 125"。又如:用1.05mm和1.0m量块，则:0"=x 206265= 20.6"。检验工作应在整个测量范围内进行,正反方向各检一次,由同方向各误差值组成误差曲线。在规定范围内准确度均应达到本标准的规定。对于光电自准直仪，光电瞄准和目视瞄准需分别进行检验。检验时平面反射镜至被检仪器物镜的距离为300mm。5.5干面反射镜放在仪器最大工作距离处时,仪器的视场范围(4.13表2中第2项)5.5.1试验工具500mm x 800m一级检验平板。5.5.2 试验程序将被检仪器放在平板上，平面反射镜置于仪器最大工作距离处时,在目镜视场中观察到的视场范围不应小于2’。5.6 目视瞄准的标准偏差(S)(4.13表2中第3项)5.6.1试验工具500mam x 800mm - -级检验平板。5.6.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前100mm处放置被检仪器附带的平面反射镜，用测微装置瞄准同一自准象并读数,共瞄准读数20次，计算标准偏差的估计值。检验工作应使自准象在视场中央、左、右、上、下五个位置上分别进行,并均应符合本标准的规定。标准偏差的估计值S按式(2)计算:Ev:免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232- -1999式中: n-测量次数;V- -第i个测得值与一组测结果的算术平均值之差。5.7仪器目镜的视度调节范围(4.13表2中第4项)5.7.1试验工具 .屈光度计。5.7.2试验程序用屈光度计进行检验。5.8 基座水准器的正确性(4.13表2中第5项)5.8.1试验工具a)水平仪: 分格值为0.05mm/m;b) 500mm x 800mm - -级检验平板;c) 100mm x 100mm方铁,其直角误差为90°土5"。5.8.2试验程序用水平仪将平板调至水平位置,再将被检仪器的基座底平面放在平板上,在物镜前放置方铁，调整方铁，使瞄准单刻线(或双刻线)对准视场中央的十字象，然后,观看圆水准器的气泡位置。5.9瞄准单刻线(或双刻线)对 十字象一条线的平行度(4.13表2中第6项)5.9.1 试验工具a) 100mm x 100mm方铁,其直角误差为90r+ 5";b)500mmx800mm一级检验平板。5.9.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前放置方铁,转动测微装置鼓轮,分别瞄准十字象上端和下端(左端和右端)并用测微装置进行读数,两次读数之差为测得值。5.10瞄准单刻线(或双刻线)对仪器基座底平面(或水平面)的平行度(4.13表2中第7项)5.10.1试验工具 .同5.9.1。5.10.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前放置方铁，摆动方铁使十字象对准单刻线(或双刻线之一根刻线)的一端并读数,再摆动方铁,使十字象对准单刻线(或双刻线之同-根刻线)的另-端并读数,两次读数之差为测得值。5.11视轴对仪器基座底平面的平行度(4.13表2中第8项)5.11.1试验工具 .5.11.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前放暨方铁,用测微装置测出十字象偏离视场中心(或读数分划板分划中线)的数值。5.12视轴对仪器基座侧平面的平行度(4.13表2中第9项)5.12.1试验工具a) 500mm x 800m一级检验平板;b) 100mm x 100mm方铁,其直角误差为90°土5";c) 750mm x 55mx 12mm - -级检验矩形平尺。5.12.2试验程序先在平板上卧放--矩形平尺，再将被检仪器放在平板上并使其基座铡平面紧靠平尺的工作面,在物镜前放置方铁,也使其紧靠平尺的同一工作面,这时用测微装登测出十字象偏离视场中心的数值。5.13测微装置的空回误差(4.13表2中第10项)5免费标准下载网w.febz.net)JB/T 8232 -19995.13.1试验工具a) 500mmx 800om一级检验平板;b) 平面反射镜。5.13.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前放置平面反射镜;调整仪器找到十字象后,转动测微装置鼓轮,正、反方向瞄准同一十字象并分别读数，重复五次。正方向五次读数平均值和反方向五次读数平均值之差作为测得值。检验应至少在测量范围内任意三个不同位t上进行，均不应超过本标准的规定。5.14自 准直光束的平行性(4.13表2中第11项)5.14.1试验工具a) 500umx 800mm - -级检验平板;b)平面反射镜;c)专用光栏, 如图1。:d) 750mnx 55mm x 12mm - -级检验矩形平尺。|^2-415040200材料:硬纸板(黑色)图15.14.2试验程序将被检仪器放在平板上,在物镜前300mum处放置平面反射镜。再将矩形平尺放在平板上,使平尺工作面大致平行于仪器光轴，与光轴距离为40nm+ 8am,再将专用光栏孔中心对准物镜孔中心,转动测微装置鼓轮,用瞒准单刻线(或双刻线)对准十字象作为起始位置，然后,以平尺工作面定位,使光栏孔中心偏离物镜孔中心8mm,再转动测微装置鼓轮测出十字象偏离的差值作为到得值。检验工作应使专用光栏孔中心相对物镜孔中心向左、右、上、下四个位置分别移动(平行光轴移动8uxmn)进行检验，均应分别达到本标准的规定。5.15光电瞄准和目视瞄准的符合性(4.13表2中第12项)5.15.1试验工具同5.13.1。5.15.2试验程序免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232- -1999将被检仪器放在平板上并接通电源，在物镜前放置平面反射镜,转动测微装置鼓轮,使瞄准双刻线套住十字象并读数,然后观察指示表指针是否位于零,若不为零则转动测徽装置鼓轮使其为零并读数,二次读数的差值即为测得值。检验应至少在测量范围内的任意三个位置上进行,均不应超过本标准的规定。5.16光电瞄 准时指示表指针偏转的对称度(4.13表2中第13项)5.16.1试验工具同5.13.1。5.16.2试验程序将被检仪器放在平板上,接通电源,在物镜前放置平面反射镜,选择适当灵敏度。转动测微装置鼓轮，在目镜视场中使瞄准双刻线靠近十字象,指示表指针向-边偏转，继续转动鼓轮，指针继续偏转到最大转折点后，向反方向偏转回到零,再继续转动鼓轮,指针离开零向指示表另一边偏转达到最大转折点后,再回到零,分别读出二边转折点的格数,二边读数差值即为测得值。检验工作应在整个测量范围内进行。5.17光电瞄准的标准偏差(S)(4.13表2中第14项)5.17.1试验工具5.17.2试验程序将被检仪器放在平板上,接通电源,在物镜前100mmm 处放置平面反射镜,稳定30min后，用光电瞄准同一目标并读数,共瞄准读数20次,检验位置与计算方法同5.6.2。5.18光电 瞄准的灵敏度(4.13表2中第15项)5.18.1试验工具同5.13.15.18.2试验程序将被检仪器放在平板上,接通电源,在物镜前放置平面反射镜。光电瞄准后，把灵敏度调到最高档,转动测微装置鼓轮,使指示表左、右摆动全量程时,读出对应测微装置鼓轮上的读数差值。再把灵敏度调到最低档,转动测微装置鼓轮,使指示表指针移动一格并读出对应鼓轮上的读数差值。被检仪器水平和垂直测量方向.上均应分别进行检验,其读数差值均应符合本标准的规定。5.19光电瞄准时由于调节灵敏度引起的指零变化(4.13表2中第16项)5.19.1试验工具5.19.2试验程序将被检仪器放在平板上,接通电源.在物镜前放置平面反射镜。将灵敏度调到最高档,并光电瞄准好，然后慢慢降低灵敏度,观察指示表指针偏离零位变化。5.20光电瞄准的稳定性(4.13表2中第17项)5.20.1试验工具5.20.2试验程序将被检仪器放在平板上,接通电源，紧靠物镜前放置平面反射镜并光电瞄准好,稳定30rin后,使指示表指针指零,在测微装置鼓轮上读取初读数,以后每隔10min使指示表指针指零对准-次,相应在测微装置鼓轮上读- -次数,该读数与初读数之差为误差值,连续4h内各误差值的最大值即为测得值。检验工作应在最高灵敏度档上进行,应符合本标准的规定。5.21平面反射镜反射面对镜座的垂直度(4.13表2中第18项)5.21.1试验工具同5.12.1款。5.21.2试验程序将被检仪器放在平板上，用与方铁相比较的方法检验，检验镜座侧面时，用矩形平尺定位，方法同7免费标准下载网w.feebz.net)JB/T 8232- 19995.20.2。5.22平面反射镜反射面的面形误差(4.13表 2中第19项)5.22.1试验工具.φ60B级平面工作样板(GB/T 1240)或专用干涉装置。5.22.2试验程序用B级平面工作样板进行检验或用专用千涉装t椎验带镜座的平面反射镜的反射面。5.23五棱镜转折角 90的正确性(4.13表2中第20项)5.23.1试验工具准确度不低于1"的光学测角仪或其他装t。5.23.2试验程序用准确度不低于1"的光学测角仪或其他装检验。5.24 38nmnx 38m正方铁的要求(4.13表2中第21项)5.24.1试验工具a) φ60B级平面工作样板(CB/T 1240);b)干涉显微镜;c)准确度不低于1"的光学测角仪或其他装t。5.24.2试验程序用单60B级平面工作样板检验面形误差，用光学测角仪或其他装置检验直角误差，用干涉显微镜检验表面光洁度。6标志、包装运输.贮存6.1 在仪器上应标志:a)制造厂 商标(或厂名);b)型号;c) 编号。6.2仪器的包装应符合 GB/T 15464的要求。6.3 在用户遵守保管和使用规则的条件下,从发给用户之日起- -年内,仪器因制造质量不良而发生损坏不能正常工作时,制造厂应无偿地为用户修理或更换,但仪器在运输途中或仓库中不应超过三个月(即出厂之日起至开始使用之日止),否则保证期限将相应短。6.4随同仪器供应的技术文件应包括:a) 装箱单;b) 仪器使用说明书;c) 仪器出厂合格证。8