氮化镓功率半导体器件技术
- 期刊名字:固体电子学研究与进展
- 文件大小:
- 论文作者:张波,陈万军,邓小川,汪志刚,李肇基
- 作者单位:电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室
- 更新时间:2023-03-24
- 下载次数:次
论文简介
作为第三代半导体材料的典型代表,宽禁带半导体氮化镓(GaN)具有许多硅材料所不具备的优异性能,是高频、高压、高温和大功率应用的优良半导体材料,在民用和军事领域具有广阔的应用前景.随着GaN技术的进步,特别是大直径硅(Si)基GaN外延技术的逐步成熟并商用化,GaN功率半导体技术有望成为高性能低成本功率技术解决方案,从而受到国际著名半导体厂商和研究单位的关注.总结了GaN功率半导体器件的最新研究,并对GaN功率器件发展所涉及的器件击穿机理与耐压优化、器件物理与模型、电流崩塌效应、工艺技术以及材料发展等问题进行了分析与概述.
论文截图
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