JB/T 2989-2016 板厚千分尺

ICS 17.040.30J 42备案号: 53596- -2016JB中华人民共和国机械行业标准JB/T 2989- -2016代替JB/T 2989- -1999板厚千分尺Sheet metal micrometer2016-01-15发布2016-06-01实施中华人民共和国工业和信息化部发布JB/T 2989- -2016目次前言2规范性引用文件3术语和定义.4型式与基本参数....4.1型.......4.2 基本参数.5.1 外观.5.2相互作用..5.3度盘与微分简.5.4 材....5.5尺架..5.6锁紧装置.5.7 测力装置5.8 测微头.5.9 测量面.5.10最大允许误差.5.11电子数显装置.5.12抗温度变化及 抗湿热能力5.13重..........5.14响应速度.5.15校对量杆.....6试验方法..6.1 防尘、防水试验.6.2 抗静电干扰试验6.3 抗电磁干扰试验6.4 温度变化试验6.5湿热试验7检查条件78检查......8.1 外观.88.2相互作用.8.3 度盘与微分简8.4 尺架刚性的检查..8.5锁紧 前后测量面问距离变化的检查....8.6 测量力和测量力变化8.7测微头的示值误差 .9JB/T 2989- -20168.8测量面.8.9 示值误差.8.10电子数显装置...108.11重复性.... 108.12校对量杆 ......9标志 与包装.....................................附录A (规范性附录)测微螺杆轴向窜动和径向间隙的检查方法、..12附录B (资料性附录)图1 I 型板厚千分尺，图2 II 型板厚.......图3 II型板厚千分尺 (电子数显板厚千分尺)图4锁紧前后两测 暈面间距离变化检查示意图图5校对量杆的尺小偏差及平行度检点示意图..................IIJB/T 2989- -2016前本标准按照GB/T 1.1- -2009给出的规则起草。本标准代替JB/T 2989- 1999 《板厚千分尺》，与JB/T 2989- -1999 相比主要技术变化如下:一-增加了 板厚千分尺的测最范围、分度值(分辨力)、测微螺杆螺距范围的不同规格品种(见第，1章，1999年版的第1章);重新定义了板厚千分尺的术语(见3.1, 1999年版的2.1);增加了板厚千分尺的型式，收入了数显板厚千分尺品种(见4.1.1, 1999年版的3.1);增加了板厚千分尺弓深尺寸系列(见表1, 1999年版的表1);-最化规定了板厚千分尺测微螺杆的轴向窜动和径向间腺(见5.2.1, 1999年版的4.2);一增加了对I型板厚千分尺指针在对准“零”位时的偏移最要求(见5.2.3);增加了对板厚千分尺材料的要求(见5.4);修改了尺架受力变形量的要求(见5.5.1， 1999年版的4.9);修改了板厚千分尺的测力要求(见5.7， 1999年版的4.8);增加了对板厚千分尺测微头的相关要求(见5.8);-修改了板厚千分尺测量面的相关要求(见5.9， 1999年版的4.3、 4.9);-修改和补充了板厚千分尺示值允许误差的相关要求(见5.10, 1999年版的4.9);-增加了数显板厚千分尺电子数显装置的相关要求(见5.11);增加了数显板厚千分尺抗温度变化及抗湿热能力的要求(见5.12);.增加了数显板厚千分尺重复性的要求(见5.13);增加了数显板厚千分尺响应速度的要求(见5.14);增加了板厚千分尺校对最杆的相关要求(见5.15): .增加了板厚千分尺试验方法的相关内容(见第6章);一增加了板厚千分尺检查条件的相关内容(见第7章);增加了板厚千分尺检查方法的相关内容(见第8章)。本标准由中国机械T业联合会提出。本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132) 归口。本标准负责起草单位:桂林量具刃具有限责任公司。本标准参加起草单位:苏州麦克龙测最技术有限公司、成都工具研究所有限公司、广西壮族自治区计量检测研究院、成都成量工具集团有限公司、桂林广陆数字测控股份有限公司。本标准主要起草人:赵伟荣、魏改红、黄晓宾、陈瑜、陈萍、张牧、闫列雪。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:-JB/T 2989- 1981;-JB/T 2989- -1999。IIJB/T 2989- -2016板厚千分尺1范围本标准规定了板厚千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检查条件、检查方法、标志与包装。本标准适用于分度值为0.01 mm、0.001 mm和分辨力为0.001 mm,测微螺杆螺距为0.5 mm、1 mm或其他规格，量程为10mm、15mm、25mm或50mm,测最范围上限最大至300mm的机械读数板厚千分尺和电子数显板厚千分尺(统称板厚千分尺)。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本( 包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 1216- -2004 外径千分 尺GB/T 2423.3- -2006 电工电子产 品环境试验第 2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验GB/T 2423.22- 2012 环境试验第2 部分:试验方法试验 N:温度变化GB 4208- 2008 外壳防护等级 (IP 代码)GB/T 17163- -2008几何 最测量器具术语基本术语GB/T 17164- 2008 几何 量测量器具术语产品术语GB/T 17626.2- -2006 电磁兼容 试验 和测鼠技术静 电放电抗扰度试验GB/T 17626.3- 2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T 20919- 2007 电子数 显外径千分尺3术语和定义GB/T 17163- 2008、 GB/T 17164- 2008 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1板厚千分尺sheet metal micrometer具有球形测最面(或平测最面)和平测最面组合及特殊弓深的尺架，适用于测最板材厚度的外径千分尺。注1:改写GB/T 17164- 2008, 定义2.3.8.注2:利用螺旋副原理，通过微分简标尺进行读数的板厚T分尺，又称机械读数板厚下分尺。注3:利用螺旋副原理，通过电了测量、数字显示技术进行读数的板厚千分尺，又称电了数显板原下分尺。注4:机械读数板厚千分尺和电子数显板厚下分尺，统称板厚千分尺。3.2测微头移动最大允许误差maximum permissible moving error of micrometer head忽略了测砧和尺架的影响，仅针对测微头在量程范围内规定的误差极限值。注1:改写GB/T 1216- 2004, 定义3.4。注2:包括测微螺杆、调节螺母及读数装置部件的误差。JB/T 2989- -20163.3响应速度response speed电子数显板厚千分尺能正常显示数值时，测微螺杆相对于测砧的最大移动速度。3.4数显装置digital indicating devices利用传感器、电子和数字显示技术计算并显示数显板厚千分尺的测量面位移的装置。4型式与基本参数4.1 型式4.1.1板厚千分尺的型式如图 1~图3所示。图示仅作图解说明，不表示详细结构。4.1.2板厚千分尺应具有测力装置， 并宜有紧固测微螺杆的锁紧装置。4.1.3板厚千分 尺应附有调整零位的工具。4.1.4测最范围下限不为 “零”的板厚千分尺应附有校对量杆。4.2基本参数4.2.1板厚千分 尺的量程宜为10 mm、15 mm、25 mm、50 mm;测微螺杆螺距宜为0.5 mm、1 mm。4.2.2板厚 千分尺的测量范围宜按10 mm、15 mm、25 mm、50 mm进行分档。4.2.3板厚千分 尺的测微螺杆和测砧的测量端直径宜为6.5 mm或8 mm。4.2.4板厚千分尺在测量范围上限时，其测砧及测微螺杆(或测微头)伸出尺架(或相应的固定导向件)的长度不应小于3 mm。4.2.5板厚千分尺尺架弓深H 见表1的推荐值。工001mm⑥0-25mm说明:1一-尺架:6--指针:2--测砧:7-固定套管:3一测微螺杆;8--微分简:4--锁紧装置:9-测力装置。5一-度盘:图1 I 型板厚千分尺JB/T 2989- -2016F01mm0-25m说明:1一尺架;5一-内定 套管;2一测砧:6--微分简:3一測微螺杆;7一测力装置。4-锁紧装置:图2 I型板厚千分尺F芒由中申●●30.001mm⑥0-25mm1一-尺架:6一数显装置;2--测砧;固定套管:-测微螺杆;8一微分简:4一锁紧装置:9-测力装置。s一-显示剧:图3型板厚千分尺(电子数显板厚千分尺)3JB/T 2989- -2016表1单位为毫米尺架弓深H尺寸系列40; 50; 70; 75; 80; 100; 110; 120; 150; 200; 250; 300; 350; 4005要求5.1外观5.1.1板厚千 分尺不应有影响使用性能的裂纹、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷。5.1.2板厚千分 尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。5.1.3电子 数显板厚千分尺的显示屏应透明、清洁、无划痕，数字显示应清晰。5.1.4标尺标记应清晰且背景反差适当，不应有目可见的断线、粗细不均及影响读数的其他缺陷。5.2 相互作用5.2.1板厚千 分尺测微螺杆的移动应平稳、灵活，在其整个行程范围内不应有卡滞现象，其轴向窜动和径向问隙均不应大于0.01 mm。.6.2.2 锁紧装置应能将测微螺杆在其测量范围内的任意位置可靠紧周，松开锁紧装置后测微螺杆应能灵活移动。5.2.3 I 型板厚千分尺指针在板厚千分尺对准“零”位时应指向“零”位，其偏移量不应大于一个标尺标记宽度。5.3 度盘与微分筒5.3.1 I 型板厚千分尺度盘的标尺应按分度值0.01 mm排列，且标尺问距不应小于1.5 mm,标尺标记的长度不应小于标尺问距。5.3.2I型板厚千分尺的度盘上每隔5个标尺标记应设长标尺标记，每隔10个标尺标记应有标尺标数，且标尺标数应与度盘上标尺标记所对应的读数值相对应。5.3.3 I 型板厚千分尺度盘上标尺标记的宽度应为0.08 mm~0.25 mm,宽度差不应大于0.05 mm。5.3.4 I 型板厚千分尺抬针尖端的宽度应与度盘标尺标记宽度-致，相互差不应大于0.05 mm。5.3.5 I 型板厚千分尺指针尖端应位于度盘短标尺标记的30% ~ 80%之间。指针尖端表面与度盘表面的问隙不应大于0.7 mm,指针(含固定套管)手感窜动量不应大于0.3 mm、摆动量不应大于标尺问距.的1/3。5.3.6 II 型板原千分尺微分简及固定套管相关要求按GB/T 1216- 2004 中5.9 的规定。5.4材料按GB/T 1216- -2004 中5.2的规定。5.5尺架5.5.1尺架应具 有足够的刚性，当尺架沿测微螺杆的轴向方向作用10 N的力时，其弯曲变形量不应大于表2的规定。5.5.2尺架 上宜安装有隔热装置。5.6锁紧装置5.6.1在用 锁紧装置锁紧测微螺杆前后，板厚千分尺两测量面问的距离变化不应超过表3的规定。JB/T 2989- -20165.6.2当板厚千分 尺两测最面均为平面时，无论锁紧装置锁紧测微螺杆与否，两平测最面问的平行度均应符合5.9.4 的规定。表2单位为毫米尺架弓深H弯曲变形量40~750.00375~ 1000.005100~1500.006150~2500.010250~3000.012300~4000.01表3紧固部位类型锁紧时测量面间距离变化有刚性支撑0.002 .无刚性支撑5.7测力装置在平面与球面接触状态下，通过测力装置作用在测量面上的测量力应在5N~10N之间。测量力变化不应大于2N。5.8 测微头板原千分尺的测微头在其量程范围内移动位移的最大允许误差不应超过表4的规定。测微头的示值误差按浮动零位原则判定，即:示值误差的带宽不应超过表4中最大允许误差“土”号后的规定值。表4测微头移动最大允许设差测微头的量程分度值分辨力0.0010，15, 25 .士0.003士0.002土0.0035(士+0.005士0.0045.9 测量面.5.9.1板原千分 尺的测量面宜为球面与平面组合，也可为平面与平面纨合或其他型面的组合。5.9.2测量面的硬度 及表面粗糙度应符合表5的规定。表5测黛面材料硬_ 度表面粗糙度Ra um碳钢、工具钢≥766 HV (或62 HRC)0.1、(0.2) 。不锈钢≥551 HV (或52.5 HRC)硬质合金或其他耐磨材料≥l 000 HV0.05a括号内参数仅指除平面型外的异型测量面。5JB/T 2989- -20165.9.3板厚千分 尺的两测最面不应有大于0.4 mm的偏位。5.9.4板厚千分尺平面测量面的平面度公差和平行度公差应符合表6的规定。平面型测最面须经研磨。表6单位为毫米测量面平面度公差”两测量面间的平行度公差测量范围上限1尺架弓深HH≤I50H>I50H≤150H> 150t≤500.0030.0040.000650<1≤1000.005100<1≤1500.0060.001 s150<1<2000.006 .0.0070.001 0200<1≤2500.008250<1≤3000.009测量面的平面度在测量面边缘0.5 mm范围内不计。5.10最大允许误差板厚千分尺的最大允许误差不应超过表7的规定。表7最人允许误差a重复性测量范围上限量程≤25量程>251≤50士0.004士0.006士0.005士0.007+0.005土0.006士0.0080.00100<1<150+0.009+0.008士0.010150<1≤200土0.008士0.010 .+0.011士0.012士0.011士0.0130.002250<1<300士0.014”最大允许误 差值仅适用于尺架弓深H不大于400 mm的条件下。5.11电子数显装置按GB/T 20919- 2007 中5.8的规定。5.12抗温度变化及 抗湿热能力电子数显板厚千分尺应具有抗温度变化及抗湿热的能力,按照GB/T 2423.22- -2012 中试验Nb的方法及GB/T2423.3- -2006 的要求，其在表8规定的严酷等级的环境下试验后应能正常工作。5.13 重复性电子数显板厚千分尺的重复性不应大于表7的规定。JB/T 2989- -2016表8温度变化严酷等级恒定湿热试验严酷等级低温T: -5C温度: (30+2) C高温Tg: 40C相对湿度: (85士3) %暴露持续时间: 10 min持续时间: 12 h，温度变化速率: (10土2) C/min循环数: 3转换时间: (2~3) min5.14响应速度电子数显板厚千分尺的响应速度应能保证以测力装置操作测微螺杆运动时，显示正常。5.15校对量杆5.15.1板厚千 分尺校对量杆的尺寸偏差为js3。其平行度公差为其尺寸公差的1/2.5.15.2校对 量杆的测量面应做成平面，表面粗糙度不应大于Ra0.1 um。5.15.3校对量杆测 量面硬度不应低于766 HV1 (或62 HRC)。5.15.4校对量杆应有隔热装置。6试验方法6.1防尘、 防水试验电子数显板厚千分尺的防尘、防水试验应符合GB 4208- -2008 的规定。6.2抗静电干扰试验电子数显板厚千分尺的抗静电干扰试验应符合GB/T 17626.2- -2006 的规定(可仅在型式鉴定时进行)。6.3 抗电磁干扰试验电子数显板厚千分尺的抗电磁干扰试验应符合GB/T 17626.3- 2006 的规定(可仅在型式鉴定时进行)。6.4温度变化试验电子数显板厚千分尺应进行温度变化试验，试验应符合GB/T 2423.22- -2012 中试验Nb的规定。在标准大气条件下恢复至常温后，按本标准中5.1.5.10、 5.11、 5.13的要求进行检查(可仅在型式鉴定时进行)。6.5 湿热试验电子数显板厚千分尺应进行湿热试验，试验应符合GB/T 2423.3 - 2006的规定。在标准大气条件下恢复时间2h后，按本标准中5.1、5.10、 5.11、 5.13 的要求进行检查(可仅在型式鉴定时进行)。7检查条件7.1检查前， 应将被检板厚千分尺、校对量杆与检查用设备共网置于铸铁平板或木桌上进行平衡温度，JB/T 2989- -2016其平衡时间不应少于表9的要求。表9测量范围土限1检查室内温度对20C的允许偏差C平衡温度时间mm机械读数板厚千分尺电子数显板厚千分尺校对量杆h1≤100t5+3土32100<1≤300士4士2.2电子数显板厚千分尺检验时的相对湿度不应大」80%。8检查方法8.1外观目力观察。8.2相互作用手感、目测及试验，如有异议，则按附录A的规定进行检查。8.3度盘与微分筒8.3.1度盘及微分简上标尺标记的相关要求可目测或借助工具显微镜、读数显微镜检查。8.3.2指针与度盘表面的问隙可借助塞尺进行检查，或用工具显微镜、指示表以两次成像法进行检查。8.3.3指针审动量可以手感及借助塞尺进行检查;摆动最可通过将测微螺杆紧固，以测力装置带动指针正反向摆动进行观测检查。8.4 尺架刚性的检查将尺架测砧端固定，在另--端沿测微螺杆轴线方向施加100N的力，并由千分表在施力端的量面上读取数值，分别观察在施力和未施力条件下千分表的示值,两次示值之差即为尺架在100N的力作用下的变形量。将此变形量按比例换算为10 N力作用下的变形量，即为尺架的变形量。8.5锁紧前后测量面间距离变化的检查将板原千分尺置于专用检具上紧固，用杠杆千分表测头对准测量面中心处预压少许，并对“零”，然斤锁紧测微螺杆，读取杠杆千分表示值变化值，即为锁紧前后测最面问距离的变化量(见图4)。0图4锁紧前后两测量面间距离变化检查示意图JB/T 2989- 20168.6测量力和测量力 变化板厚千分尺的测量力和测量力变化，用专用测力计进行检查，该项检查应在测微螺杆整个测量行程范围内的起点、中点、末点附近进行，三点测得值均应在5 N~ 10 N。三点测得值中的最大值与最小值之差为测量力变化，其值不应大于2N。8.7测微头的示值误差将板厚千分尺安放牢周，将测微头示值专用检具安装在接近测微螺杆端的尺架上(应保证检具与测量面问具有球形与平面形的接触方式)，并调整好，推荐用表10所列尺寸系列的一-组2级或四等量块进行检查(对量程为10mm、15mm的微分头全程应不少于3个受检点)。根据测微头各点示值与量块尺寸的差值绘制误差曲线，取误差曲线上最高点与最低点纵坐标的差值,按浮动零位原则确定测微头的示值误差，其值不应超过表4的规定。测量上:限至100mm的板序千分尺测微头的示值误差可不做检查，只做整体示值检查。表10单位为毫米测微头的行程量块尺寸系列2.5, 5.1, 7.7, 10.3，12.9， 15, 17.6, 20.2， 22.8, 2510，15, 25或5.12，10.24， 15.36, 21.5, 252.5, 5.1, 7.7, 10.3, 12.9， 17.6, 20.2， 22.8，2S，27.5，30，35，40, 45, 50或5.12，10.24, 15.36， 21.5, 25, 27.5，30, 40, 45, 50,8.8测量面8.8.1测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块比较检查。8.8.2对于未镶硬质合金或其他耐磨材料的测量面，测量面硬度可在距测量面1mm的光滑圆柱部位，用维氏硬度计(或洛氏硬度计)在圆周上均布三点进行检查，取三点测得值的算术平均值作为测量结果(可仅在生产过程中进行)。对于镶装硬质合金或其他耐磨材料的测量面，其硬度可不做检查。8.8.3板厚千 分尺测量面的偏位一般情况下用目力观测(必要时借助延长杆)进行检查，如有异议，参照附录B中方法进行检查。8.8.4测最面的平 面度采用二级平面平品检查，检查时应调整平面平品，使测量面上的干涉带或干涉环数尽量少或形成封闭的干涉环。平面度误差δ与干涉带数目n问的关系式见公式(1)。δ=n.....式中:δ测 量面的平面度误差，单位为微米(μm);干涉带或干涉环的数目;λ一光波波长， 约等于0.6 um。经公式(1)计算出的测量面平面度误差8的数值不应大于表6的规定。8.8.5测量面的平行度检验至少应在靠近测量上限和测量下限的两处位置上进行。每一检验位置采用一组4根尺寸相差1/4测微螺杆螺距的钢球式专用检验最杆进行检查,分别检验测量面的4个方位的平行度。每一根专用检验量杆按90°问隔转动，并从板厚千分尺上读数，4次读数的最大差值即为两测最面在此方位上的平行度误差。每一-根专用检验量杆的检验结果均不应大于表6中的规定值。平行度误差要求小F或等于0.003 mm的板厚千分尺，其测量面的平行度也可采用4块一组的光学9JB/T 2989- -2016平行平品进行检查，光学平行平晶的长度尺小与测微螺杆螺距相差1/4。依次将光学平行平品放入两测量面问，使光学平行平品与测量面相接触，并在测力作用下，轻轻调整平品使两测量面出现的干涉环或干涉带数目减至最少，分别在锁紧和松开测微螺杆的两种状态下，读取两测最面上光波干涉带条纹的总条数，以干涉带条纹总条数最多的状态为计算依据，平行度误差8与干涉带数目小n2间的关系式见公式(2)。δ=(m +12)-式中:δ-测量面的平行度误差， 单位为微米(μm); ;n|，n2-分别为两测最面上的干涉带数目;1一光波波长， 约等于0.6 μm。经公式(2)计算出的测最面平行度误差8的数值不应大于表6的规定。也允许用其他满足测量不确定度要求的仪器检查测最面的平行度。8.9示值误差将板厚千分尺紧固在夹具上，在两测量面问放入尺小系列符合表11要求的一-组 2级或四等最块进行检查(对最程为10 mm、15 mm的板厚千分尺，全程应不少于均布3个受检点)，得出板厚千分尺示值与相应量块尺寸的差值，以各检点中绝对值最大的差值作为板厚千分尺的示值误差，其值不应大于表7的规定。对于测量范围下限大于100 mm的板厚千分尺，可不做整尺示值检查，根据测微头的行程用测微头示值专用检具仅对测微头的示值进行检查。其值不应大于表4的规定。表11单位为毫米量程量块尺寸系列A+2.5，A+5.1, 4+7.7，A+10.3， 4+12.9， A+15, A+17.6, 4+20.2, A+22.8, 4+2510，15， 25或A+5.12，A4+10.24, A4+15.36， 4+21.5, A+254+2.5, A+5.1, A+7.7, A+10.3, A+12.9, 4+17.6, A+20.2, A+22.8， A+25， A+27.5， A+30,04+35，A+40, A+45，A+50或1+5.12，4+10.24， A+15.36， A+21.5, 4+25，4+27.5, A+30, A+3S, 4+40, A+45, A+50注:表中A为板厚下分尺的测量下限。8.10电子数显 装置按GB/T 20919- 2007 中6.5的规定执行。8.11重复性电子数显板厚千分尺，在相同测最条件下，对同一最值，重复测最5次分别读数。5次测得示值问的最大差值即为该受检位置的重复性。重复性检查应在全量程的起始点、中点、终点3处附近进行，各检查点的重复性均应满足5.13的规定。8.12校对量杆8.12.1校对 量杆的尺小偏差可在光学计或测长机上采用四等最块以比较法进行检查,也可以用同等准确度的其他仪器检查。检查在图5所示的5个点上进行，5个点的检查结果均应满足校对最杆尺小偏差的规定，并取S个JB/T 2989- -2016点检查结果中的最大值为校对最杆的实际尺寸。取5个点检查结果中的最大值与最小值之差为校对最杆两工作面的平行度误差。949图5校对量杆的尺寸偏差及平行度检点示意图8.12.2校对 量杆的测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块和显微镜比较检查。8.12.3校对 量杆的测量面硬度，可在距测量面1 mm的光滑圆柱部位，用维氏硬度计(或洛氏硬度计)在圆周上均布3点进行检查，取3点测得值的算术平均值作为测量结果。检查可仅在生产过程中进行。9标志与包装9.1 板厚千分尺上至少应有以下标志:a)制造厂名称或注册商标;b)分度值/分辨力(电子数显板厚千分尺可不标注):c)产品序号。9.2 板厚千分尺的包装盒上至少应有以下标志:b)产品名称:c)分度值/分辨力及测量范围。9.3校对量杆上应标注其长度标称尺寸。9.4板原千分尺在包装前应经过防锈处 理并妥善包装，不得因包装不善1i在运输过程中损坏产品。9.5 板厚千分尺经检查符合本标准要求的，应附有产品合格证，产品合格证上应标有产品执行标准编号、产品序号和出厂日期。|1JB/T 2989- -2016附录A(规范性附录)测微螺杆轴向窜动和径向间隙的检查方法A.1板厚千分尺测微螺杆的轴向窜动和径向摆动最宜采用专用检查装置进行检查。检查装置的分度值或分辨力为0.001 mm。A.2检查轴向窜动时，采用杠杆千分表进行检查。将杠杆千分表与测微螺杆的测量面接触，在测微螺杆轴线方向分别施加3 N~5 N的往返力，观察杠杆千分表的示值变化，示值的最大变化量即为测微螺杆的轴向窜动量，其值不应大于0.01 mm。A.3检查径问摆动时， 采用杠杆千分表进行检查。将测微螺杆伸出尺架10 mm,使杠杆千分表测头接触测微螺杆端部2 mm左右处的外圆周上，沿杠杆千分表的测量方向在测微螺杆上施加2 N~3 N的往返力，观察杠杆千分表的示值变化，示值的最大变化量即为测微螺杆在此方向上的径向摆动量。然后在测微螺杆与此方向相互开真的另一径向上进行同样的检查,取两次检查所得径向摆动量中的较大值为板厚千分尺测微螺杆的径向摆动量，其值不应大于0.01 mm。.2JB/T 2989- -2016付录B(资料性附录)测量面偏位量的检查方法将板厚千分尺尺架平放在平板上的3个可调支承架上,调整支承架使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测砧至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测最面在水平方向的偏移量&。然后，将板厚千分尺尺架绕测微螺杆轴线转动90° , 使尺梁平面与平板平面垂直，以尺架为支撑点，调整支撑点使测微螺杆伸出部分轴线与平板平面平行，分别测出测微螺杆和测砧至平板平面间的距离，两距离的差值即为两测量面在垂真方向上的偏移量8。两测量面的偏位8由公式(B.1) 计算，计算结果不应大于5.9.3的规定值。8,=(8,)2 +(8.)2....式中:δ- -两测最面的偏位，单位为毫米(mm);δ一-两测量面在水平方向上的偏移量，单位为毫米(mm);8;--两测量面在垂直方向上的偏移量，单位为毫米(mm)。3