JB/T 6079-1992 电子数显外径千分尺

J 42。JB中华人民共和国机械行业标准JB 6079- -92电子数显外径千分尺1992-05-16发布1993-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国机械行业标准JB 6079-92电子数显外径千分尺1主题内容与适用范围，本标准规定了电子数显外径千分尺的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装。本标准适用于分辨率为0.001mm或0.0001mm,最大测量范围至99.999mm的带测微螺杆的电子数显外径千分尺(以下简称千分尺)。2引用标准●GB2423.3电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法GB 2423. 22电工电子产品基本环境试验规程试验N:温度试验方法3术语3.1 电子数显外径千分尺利用螺旋副原理使尺架上两测量面间分隔的距离通过电子技术和显示装置进行读数的测量器具。4产品分类4.1 型式千分尺的型式见下图。尺架测微螺杆制动装置固定套管微分筒测力装置图回回Je隔热装置测砧按钮显示器注:图示仅作参考,不供表示详细结构之用。图1机械电子工业部1992-05- 16批准1993-01-01实施JB 6079- -924.2 基本参数4.2.1测量范围:0~25,25~ 50 , 50~75,75~99.999 mm。4.2.2测微螺杆和测砧的测量端直径应为6.5 mm或8 mm.4.3千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测微螺杆的锁紧装置。5技术要求5.1千分尺不得有影响使用性能的外部缺陷,数字显示应清哳。5.2千分尺各工作按钮应灵活可靠,测微螺杆移动应平稳,无卡滞现象,其径向和轴向间隙应不大于0.01 mm。5.3千分尺两测量面偏位值应不大于表1的规定。表1mm量围偏立直0~ 250. 0525~ 50.0. 0850~750.1275~99. 9990.155.4千分尺锁紧装置应能保证可靠地锁紧测微蝶杆,锁紧时两测量面平行度变化应不大于0.001mm。5.5千分尺测量面应镶硬质合金。5.6千分尺测量面的表面粗糙度R.的最大允许值为0.05μm.5.7千分尺测量面与球面接触时的测力应为5~10N,测力变化应不大于2N。5.8千分 尺尺架沿测微螺杆轴线方向受10 N时的变形量应不大于表2的规定.表2测变形量0~25,25~500. 00250~ 75,75~99.9990.0035.9千分 尺测量面平面度公差为0. 3 μm。5.10千分尺示值误差和两测量面平行度公差见表3。表3示值误差平行度公差0~25.0.001士0.00225~500. 0015士0.00375~ 99.9995.11千分尺的示值变动性应不大于:0.001mm.5.12千分尺两测量面在任意位置时数值的漂移应不大于0.001mm。5.13测量上限等于和大于50.mm的千分尺应附有校对量杆。5. 14校对 量杆的尺寸偏差和两测量面的平行度公差见表4.2标准分享网w bzfxi com免费下载JB 6079- - 92表4mm标称尺寸寸偏差平行度公差25士0.0010. 0015士0.001570. 00155.15校对 量杆应有隔热装置。5.16校对量杆测量面硬度应不低于766HV(≈62HRC)。5.17校对量杆测量面的表面粗糙度R。的最大允许值为0.05μm.6试验方法6.1千分尺湿热试验按GB2423.3。6.2千分尺高低温试验按GB2423.22.7检验规则 .检验方法见附录A(补充件)。8标志和包装 .8.1标志8.1.1千分尺 上应标志:a.制造厂 厂名或注册商标;b.测 量范围;分辨率;d. 产品序号。8.1.2校对量杆 上应标志标称尺寸。8.1.3 包装盒上应标志:制造厂厂名或注册商标;b.产品名称;c.测量 范围;8.2千分尺在包装前应经防锈处理,并妥善包装,不得因包装不善而损坏产品。8.3千分尺应有使用说明书和产品台格证,产品合格证上应标有本标准的标准编号、产品序号和出厂日期。JB 6079- -92附录A千分尺的检验方法A1检定条件千分尺检定时室内温度为20士3C,相对湿度不大于80%。A2 外观目力观察。A3径 向和轴向间隙A3.1用手感检查径向问隙。有异议时，则将千分尺夹在专用检具上，在距尺架内端面10mm处测出径向间隙值。A3.2用手感检查轴向间隙。如有异议时,则在专用检具上测出其轴向间陈值。A4两测量面偏位测量范围为0~25mm用塞尺比较;大于0~25mm用专用检具测出偏位值。A5 锁紧时两测量面平行度变化用平行平晶观察干涉带条纹变化。A6测量面表面粗糙度用表面粗糙度比较样块比较。如有异议时用表而粗糙度仪检查。A7测力和测力变化用千分尺专用测力计测出测力和测力变化值。A8尺架受 力变形.将千分尺尺架-端垂直安放并固定在平台上的专用夹具上,用1μm杠杆千分表接触测砧测量面进行读数。然后沿测微螺杆轴线方向挂10 N的重锤,再在杠杆千分表上进行读数,两次读数差即为尺架受力变形。A9 测量面平面度将光学平而平晶与测量面贴合,读取光波干涉条纹数。A10示值 误差和两测量面平行度A10.1示值误差对0~25mm的千分尺以两测量面接触对零。对测量下限等于或大于25mm的千分尺用下限尺寸的量块对零。经对零后放入下表所列的一组1级精度的量块进行检测。对具有机械读数装置的亦应达到规定的要求。量块尺寸见表A1.JB 6079- -92丧Almm范染块尺寸0~252.5, 5.1, 7.7, 10.3, 12.9, 15.0, 17.6. 20.2, 22.8, 25.025~ 5027.5, 30.1, 32.7, 35.3. 37.9. 40.0, 42.6, 45.2, 47.8, 50.050~7552.5. 55.1, 57.7, 60.3, 62.9, 65.0, 67.6, 70.2, 72.8, 75.075~ 99.990.77.5, 80.1, 82.7, 85.3, 87.9. 90.0, 92.6. 95.2, 97. 8检示值误差时,无论锁紧与否均应达到规定的要求。A102两测量面平行度用四块厚度差约一测微螺杆螺距的平行平品或用四块尺寸大于测量范围下限值的1级精度量块,每块量块中其尺寸彼此相差约一测微螺杆螺距。检测时.每块量块分别在相互垂直的四个位置上进行,测出每块的最大值与最小值之差,取四块中的最大值。A11示值变动性在测录条件不作任何改变,重复测量五次,其显示值的最大差异。A12任意位置时数值漂移将千分尺转动到任意位置,锁紧测微螺杆,使显示值保持1h,观察其数值的变化。A13校对量杆尺寸偏差和两测量面平行度A13.1尺寸 偏差在立式光学计上用l级精度量块以比较法进行检验。A13.2平行度将校对昼杆置于立式光学计上,在测量面中心及距测量而边缘1nm的位置上沿圆周均布四点,取五点中最大尺寸与最小尺寸之差。A14校对量杆测量面硬度在维氏硬度计上进行。A15校对量杆测量面表面粗糙度用表而桠糙度比较样块比较。有异议时用表面粗糙度仪检查。附加说明:本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出。本标准由机械电子工业部成都工具研究所归口。本标准由上海最具刃具厂负责起草,桂林量具刃具厂、北京第二显具厂、青海量具刃具厂参加起草。本标准主婴起草人金明生。中华人民共和国机械行业标准电子数显外径千分尺JB 6079- -92机械电子工业部机械标准化研究所出版发行(北京8144信箱邮编 100081)版权专有不得 翻印河北省清河县印刷厂印刷开本880X1230 1/16 印张 5/8字数10 0001992年9月第一版1992年9 月第一次印刷编号0649