手机SIM卡TG-FTIR热解实验研究

利用热重-红外分析仪(TG-FTIR)研究了手机SIM卡在不同升温速率下的热解行为,探讨了升温速率对热解参数及热解产物的影响.采用分布式活化能模型求解了热解活化能,探讨了活化能随转化率的变化规律.研究结果表明:手机SIM卡呈现一段热解,主要热解温区在350～500℃,最大失重速率为-62.57％/min,总失重率高达90％.随着升温速率的提高,热解初始温度和热解结束温度均增大,最大热解速率和对应的温度也都增大;热解活化能在170～204 kJ/mol变化,随转化率变化规律呈现先增大后减小再增大后逐渐减小的规律,在转化率0.2时达到最大值;主要热解产物为苯、烷烯烃等可燃成分,而且含有氯、氮等元素;升温速率对热解组分没有影响.