首页 > 标准下载

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method

标准类别：[GB] 国家标准
标准大小：
标准编号：GB/T 40279-2021
标准状态：
更新时间：2022-03-18
下载次数：次

会员下载(8点)

VIP会员下载(0点)

游客扫码下载(9点)

标准简介

GB/T 40279-2021硅片表面薄膜厚度的测试光学反射法Test method for thickness of films on silicon wafer surface. Optical reflection method

标准截图

上一条：GB/T 40280-2021塑料液态或乳液态或分散体系的树脂用单筒旋转黏度计测定表观黏度Plastics. Resins in the liquid state or as emulsions or dispersions. Determination of apparent viscosity using a single cylinder type rotational viscometer method

下一条：GB/T 40202-2021跨境电子商务物流信息交换要求Requirements for logistics information interchange in cross-border e-commerce

版权：如无特殊注明，文章转载自网络，侵权请联系cnmhg168#163.com删除！文件均为网友上传，仅供研究和学习使用，务必24小时内删除。

reflection thickness silicon