GB/T 28275-2012硅基MEMS制造技术.氢氧化钾腐蚀工艺规范Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for KOH etch process GB/T 28275-2012硅基MEMS制造技术.氢氧化钾腐蚀工艺规范Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for KOH etch process

GB/T 28275-2012硅基MEMS制造技术.氢氧化钾腐蚀工艺规范Silicon-based MEMS fabrication technology—Specification for KOH etch process

  • 标准类别:[GB] 国家标准
  • 标准大小:
  • 标准编号:GB/T 28275-2012
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2022-06-10
  • 下载次数:
标准简介

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准由全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC336)提出并归口。本标准起草单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所、重庆大学、东南大学、中国电子科技集团第四十九研究所、中机生产力促进中心。本标准主要起草人:夏伟锋、熊斌、冯飞、戈肖鸿、周再发、李玉玲、贺学锋、田雷、刘伟。

标准截图
版权:如无特殊注明,文章转载自网络,侵权请联系cnmhg168#163.com删除!文件均为网友上传,仅供研究和学习使用,务必24小时内删除。