GB/T 17626.34-2012电磁兼容.试验和测量技术.主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains current more than 16 A per p GB/T 17626.34-2012电磁兼容.试验和测量技术.主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains current more than 16 A per p

GB/T 17626.34-2012电磁兼容.试验和测量技术.主电源每相电流大于16A的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Voltage dips,short interruptions and voltage variations immunity tests for equipment with mains current more than 16 A per p

  • 标准类别:[GB] 国家标准
  • 标准大小:
  • 标准编号:GB/T 17626.34-2012
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2022-08-17
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标准简介

GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》分为以下几个部分:GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.12—1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.34—2012 电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A 的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验本部分为GB/T17626的第34部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分等同采用国际标准IEC61000-4-34:2009《电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A 的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。本部分主要起草单位:上海工业自动化仪表研究院、国网电力科学研究院。本部分参加起草单位:上海仪器仪表自控系统检验测试所、上海出入境检验检疫局。本部分主要起草人:王英、万保权、刘晓东、干喆渊、李妮、洪济晔、张顺达。

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