GB/T 27760-2011利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic step

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准与ASTM E2530—2006《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》(英文版)技术内容基本一致。考虑到我国国情,在采用ASTM E2530—2006时,本标准做了一些修改,有关技术性差异已编入正文中。附录A(规范性附录)中给出样品制备方法,附录B(资料性附录)中列出了本标准章条编号与ASTM E2530—2006章条编号的对照一览表,附录C(资料性附录)中给出了技术性差异及其原因一览表以供参考。本标准由中国科学院提出。本标准由全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC279)归口。本标准起草单位:国家纳米科学中心。本标准主要起草人:朱晓阳、杨延莲、贺蒙、高洁。