GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（插入损耗） Electromechanical components for electronic equipment- Basic testing procedures and measuring methods- Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss) 

GB/T5095的本部分适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。
本部分描述了测量作为频率函数的衰减／插入损耗的频域法和时域法。
注：本文件从始至终引用了“衰减”一词。当按样品和传输线类型进行测量的专业试验人员总结和报告试验测量结 果时，必须使用合适的术语（衰减或插入损耗）。 5095.2502-2021 /IEC 60512-25-2:2002 　电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减（ 插入损耗） Electromechanical components for electronic equipment- 　 　 Basic testing procedures and measuring methods- 　 　 Part 25-2: Test 25b: Attenuation (insertion loss) [IEC 60512-25-2: 2002, Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 25-2: Test 25b: Attenuation(insertion loss), IDT] 2021-03-09发 布 2021-10-01实 施 妒 ， 。 。 ， ， 、 国家市场监督管理