BS EN 15991-2015 陶瓷基材料的测试 金刚砂粉末和颗粒中杂质质量分数的直接测定 电感耦合等离子体发射光谱法 (ICP OES) 电热的蒸发(ETV) Testing of ceramic and basic materials. Direct determination of mass fractions of impurities in powders and granules of silicon carbide by inductively coupled plasma optica
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- 标准编号:BS EN 15991-2015
- 标准状态:现行
- 更新时间:2023-07-31
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