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BS ISO 22489-2016 微束分析电子探针微量分析 使用波长色散X射线光谱的批量样品的定量点分析 Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy BS ISO 22489-2016 微束分析电子探针微量分析 使用波长色散X射线光谱的批量样品的定量点分析 Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

BS ISO 22489-2016 微束分析电子探针微量分析 使用波长色散X射线光谱的批量样品的定量点分析 Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

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  • 标准编号:BS ISO 22489-2016
  • 标准状态:现行
  • 更新时间:2023-08-11
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